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SOMMAIRE

• Colonne électronique, formation de la sonde (P. CHOMEL, INSA Toulouse)
• Automatisation du MEB (R. MOLINS, INPG, St Martin d'Hères)
• Optimisation de l'image en MEB (J. GARDEN, J.M. CHAIX, M. LABEAU, INPG, St Martin d'Hères)
• Acquisition des spectres en spectrométrie X (F. GRILLON, EMP, Evry)
• Analyse X quantitative, méthodes de Monte-carlo (J. HENOC, Caméca, F. MAURICE, CEA Saclay)
• Microanalyse X sur échantillons massifs isolants (M. FIALIN, Univ. P.M. Curie, Paris)
• Migration des ions alcalins dans les isolants (F. AUTEFAGE, INSA Toulouse)
• Le MEB dans les sciences de la terre (P. BLANC, Univ. P.M. Curie, Paris)
• Le MEB dans les matériaux des oeuvres d'art (A. DUVAL, Lab. Recherches Musées de France, Paris)
• Analyse de particules et de fibres par MEB et analyse X (T. JALANTI, Microscan, Lausanne)
• Spectroscopie de pertes d'énergie en mode STEM (Y. KIHN, J. SEVELY, R. FOURMEAUX, CEMES.LOE, Toulouse)
• Cathodoluminescence dans les semiconducteurs (J.F. BRESSE, CNET Bagneux, A. RIVIERE, CNRS Meudon) .
• Courant induit (EBIC) dans les semiconducteurs (B. SIEBER, Univ. Lille, B. AKAMATSU, CNET Bagneux)
  

Cet ouvrage constitue un compte-rendu des travaux pratiques de l'école d'été organisée conjointement par le groupement N°8 de l'ANRT et le Club MEB de Toulouse, dans les locaux de l'INSA à Toulouse (27 août-8 septembre 1990). Sont d'abord développés les aspects instrumentaux en microscopie à balayage et en microanalyse X (colonne électronique, formation de la sonde électronique, automatisation, optimisation des images, acquisition des spectres X). L'observation au MEB, l'analyse qualitative et quantitative de différents types d'échantillons sont présentées (échantillons géologiques, archéologiques, particules et fibres, échantillons isolants). D'autres techniques de microscopie analytique sont aussi traitées : la spectrométrie de perte d'énergie d'électrons (EELS), la cathodoluminescence et le courant induit dans les semiconducteurs.

SOMMAIRE

• Analyse d'image et microscopie électronique (J. SERRA, Ecole des Mines de Paris, Fontainebleau)
• Acquisiton numérique des images en microscopie électronique à balayage (M. TENCE, Université Paris-Sud, Orsay)
• Correction géométrique des images (M. GRIMAUD, Ecole des Mines de Paris, Fontainebleau)
• Techniques de base en traitement d'images (R. DERICHE, INRIA, Sophia-Antipolis)
• Amélioradon des images X par filtrage multivariables (C. DALY, Ecole des Mines de Paris, Fontainebleau)
• Introduction aux outils morphologiques de segmentation (S. BEUCHER, L. VINCENT, Ecole des Mines de Paris, Fontainebleau)
• Granulométne par analyse d'images en microscopie quantitative (P. OSMONT, IRSID, Maizières les Metz)
• Analyse morphologique de la répartition spatiale (D. JEULIN, Ecole des Mines de Paris, Fontainebleau)
• Mesures stéréologiques dans le cas local : cas des sections, application aux structures, cas des projections, application à l'étude fractographique (M. COSTER, J.L. CHERMANT, LERMAT, Université de Caen)
• Estimation de la précision des mesures morphologiques pour les microstructures grossières (H. DEMAGNY-PETITGAND, IRSID, St-Gemain)
• Introduction aux modèles d'images aléatoires pour la microscopie électronique à balayage (D. JEULIN, Ecole des Mines de Paris, Fontainebleau)
• Exemples de synthèse : traitement et analyse d'images appliqués à l'étude de l'homogénéité de dépôts de poudre (F. GRILLON, D. FAYEULLE, M. JEANDIN, Ecole des Mines de Paris, Evry)
• Numérisation des images en microscopie à balayage (J. RUSTE, EDF, Les Renardières, Moret sur Loing)
• Numérisation des images X (P. ROLLAND, Link Analytical, Gif sur Yvette)
  

Tous les aspects de l'acquisition et du traitement d'images sont abordés dans cet ouvrage qui a été publié à l'issue de la réunion des 1 et 2 décembre 1988 à Paris. Après un exposé sur l'acquisition numérique des images, les différentes techniques d'amélioration des images sont traitées : intégration, moyennage, mise en oeuvre de filtres simples et multivariables. Le traitement des images est introduit par la définition des outils morphologiques et illustré par des exemples d'application en granulométrie, analyse de répartition spatiale, mesures stéréologiques, fractographie. L'aspect précision des mesures morphologiques est abordé de même que les modèles d'images aléatoires. Un exemple de synthèse d’amélioration et de traitement des images est donné. Enfin, les perspectives offertes par les microscopes analytiques numérisés pour l'acquisition d'images électroniques ou de composition par analyse X sont évoquées.

1989  *  278 pages
ISBN 2.900.19514.4
LD5141

épuisé

• Processus physiques et leur simulation par la méthode de Monte-Carlo (F. MAURICE, CEA, Saclay)
• Paramètres en microanalyse par sonde électronique (K.F.J. HEINRICH, NBS, Gaithersburg, Maryland)
• Modèles de correction pour la microanalyse quantitative (J.L. POUCHOU, ONERA, Chatillon)
• Choix des conditions opératoires en microanalyse X (R. MOLINS, Institut National Polytechnique, Grenoble)
• Le fond continu en sélection d'énergie : origine, description (J.F. BRESSE, CNET, Bagneux)
• Méthodes de soustraction du fond continu et de déconvolution des pics (D. BENOIT, IRSID, St-Germain)
• Traitement statistique (C. MERLET, USTL, Montpellier)
• Analyses d'échantillons minces sans support (J.C. VAN DUYSEN, EDF, Les Renardières)
• Analyse quantitative de couches minces superficielles (J.L. POUCHOU, ONERA, Chatillon)
• Analyse d'échantillons rugueux (C. LANDRON, CNRS, Orléans)
• Analyse quantitative sans témoin (D. BENOIT, IRSID, St-Germain)
• Difficultés expérimentales, causes d'erreurs (M. MONCEL, UNIMETAL, Amneville)
  

Cet ouvrage constitue le deuxième volet de la série pédagogique consacrée à la microanalyse X par sonde électronique. Il regroupe les textes relatifs aux réunions des 15 et 16 janvier 1987 et des 10 et 11 décembre 1987 où ont été abordés les aspects quantitatifs. Les phénomènes physiques liés à l'interaction électron-matière et à l'émission X sont tout d'abord décrits par des simulations de Monte-Carlo. Les modèles de correction d'effets de matrice sont ensuite présentés dans le cas des échantillons massifs (plans ou rugueux) et en couches minces (avec ou sans support). L'ouvrage aborde également l'analyse sans témoins, le traitement des spectres (soustraction du fond continu, déconvolution des pics), la précision des mesures en relation avec la statistique de comptage. Les textes ont été rédigés avec le souci de privilégier les aspects pratiques et de ne pas négliger les difficultés expérimentales et les causes d'erreur.

1987  *  152 pages
ISBN 2.900.19511.X
LD511X

épuisé

• Bases physiques de l'émission des rayons X et de leur interaction avec la matière (J.P. EBERHARDT, Faculté des Sciences, Strasbourg)
• Spectrométrie de rayons X : analyse par dispersion de longueur d'onde (J.P. MORLEVAT, CEN, Grenoble)
• Spectrométrie par dispersion de longueur d'onde : électronique associée (J. RUSTE, EDF, Les Renardières)
• Contrôle et réglage de la chaîne de mesure en spectrométrie de longueur d'onde (F. GRILLON, Ecole des Mines, Corbeil)
• Pratique de la spectrométrie W.D.S. (J.L. POUCHOU, ONERA, Chatillon)
• Analyse par sélection d'énergie (H. BIZOUARD, TRACOR, Evry)
• Contrôle et utilisation du spectromètre à sélection d'énergie (P. ROLLAND, EGG, Evry)
• Analyse des éléments légers par sélection d'énergie : progrès instrumentaux (P. STATHAM, LINK, High Wycombe)
  

Ce fascicule s’inscrit dans la série des documents pédagogiques dont l’objet est de répondre au besoin de formation manifesté ces dernières années par les utilisateurs des techniques utilisant la détection des rayons X émis sous l'impact d'un faisceau d'électrons dont les appareils sont appelés "microsonde électronique", « microsonde de Castaing » ou "microanalyseur X". La spectrométrie de rayons X a été abordée lors de la réunion du groupement N°8 qui s’est tenue à Paris les 28 et 29 novembre 1985. Après quelques rappels sur les bases physiques de l'émission des rayons X, le principe et la mise en oeuvre des spectrométries par dispersion de longueur d’onde et par sélection d’énergie sont décrites de façon simple. L’accent est mis sur les opérations de réglage et de contrôle des différents systèmes afin d'aider le lecteur à choisir les meilleures conditions analytiques suivant le problème à traiter et à éviter les écueils.

1985  *  188 pages
ISBN 2.900.19507.1
LD5071

épuisé
 

• Emissions électroniques et contrastes (E.VICARIO, Université Claude Bernard, Lyon)
• Optique électronique, principes et réglages pratiques (M.CHAMPIGNY, CEN Saclay, J.RUSTE, EDF, Les Renardières, Moret sur Loing)
• Détection des signaux électroniques (M.THOLOMIER, Université Claude Bernard, Lyon)
• Choix des meilleures conditions d'utilisation du microscope électronique à balayage (A.DUBUS, Péchiney, Voreppe)
• Mesures sur paires stéréographiques au microscope électronique à balayage (J.F.BRESSE, CNET, Bagneux)
• Préparation des échantillons et artefacts associés (F.GRILLON, Ecole des Mines, Evry.)
• Introduction à la cathodoluminescence (M.DUSSAC, CEN Grenoble)
• Applications du courant induit (E.AUVRAY, Thomson, Saint.Egrève)
• Principe de la microscopie électroacoustique (J.F.BRESSE, CNET Bagneux)
  

Les 6 et 7 décembre 1984, la réunion du groupement N°8 « Microanalyse et Microscopie Electronique à Balayage » de l’ANRT se tenait à l’Université Claude Bernard de Villeurbanne. Le thème choisi «  principe de la microscopie électronique à balayage et problèmes posés par son utilisation »  était volontairement traité de façon pédagogique. En effet, le microscope à balayage devenant un appareil de base dans le laboratoire et le contrôle industriel, sa banalisation entraînait le risque de le voir utilisé en deçà de ses possibilités. Cet ouvrage réunit des articles didactiques allant des bases physiques de la technique (émissions électroniques et interactions électron-matière), à l'instrumentation (optique électronique, détecteurs d'électrons) et l'utilisation de l'appareil pour l'imagerie de surface. L’ouvrage comporte des développements sur trois techniques : cathodoluminescence, courant induit, microscopie électroacoustique. Les réglages de l’appareillage et la préparation des échantillons font l’objet d’une attention particulière