Le signal EBSD abordé sous tous les angles 

Fabrice GASLAIN,
Mines Paris, Université PSL, Centre des Matériaux (MAT), UMR7633 CNRS, 91003 Evry, France

La diffraction des électrons rétrodiffusés ou EBSD (Electron Back Scattered Diffraction) dans le MEB est une technique de choix pour analyser la microstructure des matériaux dès lors qu’ils sont cristallins. Grâce aux progrès technologiques effectués sur les caméras d’acquisition du signal EBSD et au niveau de l’informatique, cette technique n’a cessé d’évoluer depuis maintenant une trentaine d’années. Il est désormais possible d’accéder de plus en plus rapidement à des volumes de données toujours plus importants, à des microstructures plus fines ou des microstructures plus déformées grâce à de nouveaux traitements du signal.

Dans cet exposé, nous rappellerons l’origine du signal EBSD puis nous aborderons les différentes méthodes d’indexation des clichés EBSD nous permettant d’associer une orientation cristallographique pour chaque cliché. Ensuite, je vous présenterai plusieurs exemples de représentations de microstructures et les limitations qu’on peut rencontrer. Puis nous découvrirons de nouvelles solutions de traitement d’images permettant d’améliorer l’indexation des clichés EBSD et offrant de nouvelles perspectives pour représenter les microstructures des matériaux analysés.