Centre de Compétences en Microscopies Electroniques et Microsondes (CC-MEM)


http://www.ijl.nancy-universite.fr/

Institut Jean Lamour
UMR 7198 CNRS - Université Lorraine
CC-MEM
Parc de Saurupt - CS 50840
54011 Nancy Cedex

Université de Lorraine (UL)
http://www.univ-lorraine.fr/

 


  CG
Christine GENDARME
Ingénieur caractérisation des matériaux
Microsonde de Castaing et microscopie électronique à balayage

tél : 03.83.58.41.88
christine.gendarme@univ-lorraine.fr

Présentation de l'Institut Jean Lamour.

L’Institut Jean Lamour est la traduction d’une volonté commune de l’Université de Lorraine, du CNRS, du Conseil Régional de Lorraine et de la Communauté Urbaine du Grand Nancy, de capitaliser sur un long passé de recherche en forte interaction avec le monde industriel, et de s’imposer en tant qu’acteur majeur européen de la recherche dans les domaines des matériaux, de la métallurgie, des nanosciences , des plasmas, des surfaces…
C’est désormais l’un des plus importants centres de recherche publique en Europe dans le domaine de la Science des Matériaux, et le plus important de l’Institut de Chimie du CNRS.
Les 23 équipes de recherche de l’IJL, s'appuyant sur 8 centres de compétences et 3 services communs, sont capables de traiter un projet « matériau » à tous les stades du processus de développement – de la modélisation numérique à la fonctionnalisation de surface en passant par la conception de procédés d’élaboration ou encore par la prise en compte du cycle de vie complet du produit pour un développement responsable et sécurisé – accélérant notablement le passage de la recherche scientifique au produit potentiellement commercialisable.

Six priorités scientifiques, véritables axes transverses des recherches menées par les équipes de l’IJL, ont été définies afin de répondre aux attentes et enjeux sociétaux dans les domaines couvrant de la science des matériaux à l’ingénierie des surfaces en passant par la métallurgie, de l'énergie au développement durable en passant par les plasmas et l’électronique :
•    Plasmas chauds & froids – Fusion Thermonucléaire,
•    Matériaux artificiels nanostructurés,
•    Interfaces avancées pour l’énergie,
•    Métallurgie,
•    Théorie et Modélisation,
•    Matériaux et vivant

L’IJL s’installera en 2015 à Nancy sur le Campus ARTEM – Molitor dans un nouvel ensemble de plus de 28.000 m2, qui lui sera entièrement consacré et lui permettra de regrouper les moyens techniques et humains de la plupart de ses équipes en un même lieu. L’IJL voisinera alors l’Ecole Nationale Supérieure des Mines de Nancy, l’Ecole Nationale Supérieure d'Arts de Nancy, et l’ICN business school.

    Quelques mots sur le CC-MEM.

    Le Centre de Compétences en Microscopies Electroniques et Microsondes offre à la communauté scientifique du Grand Est, universitaires et industriels, un accès à des techniques de caractérisations et d’analyses de premier plan. Sa vocation est de servir d'appui à la recherche en fournissant d’une part des moyens d'investigations très performants et d’autre part les compétences humaines pour conduire les analyses, assister les utilisateurs, les orienter, solutionner les problèmes analytiques et aider au traitement des résultats. Par le biais d’une formation spécifique, il permet aux chercheurs, enseignants chercheurs, personnels techniques et doctorants de l’Institut d’analyser leurs échantillons en complète autonomie.
    Les équipements disponibles dans le service sont :
    •    un microscope électronique à balayage Quanta 650 FEG de FEI équipé d'un système EDS de type SDD Brüker et d'un système EBSD Oxford ;
    •    un microscope électronique à balayage XL30 S-FEG de FEI, équipé d'un système EDS Si(Li) EDAX ;
    •    une microsonde à effet de champ JXA 8500F Jeol ;
    •    un microscope électronique à transmission à effet de champ ARM 200F Cold FEG Jeol équipé d'un correcteur de sonde, d'un système EDS SDD Jeol, d'un GIF Quantum et d'une caméra Orius 200 Gatan ;
    •    un microscope électronique à transmission CM200 de FEI, équipé d'un système EDS Si(Li) EDAX, d'un système par perte d'énergie PEELS modèle 666 de Gatan et d'une caméra numérique MSC 794 de Gatan ;
    •    un spectromètre de masse d’ions secondaires IMS 7F de Cameca.

    A venir courant 2015 : un microscope d’ions focalisés Hélios Nanolab 600I de FEI.

    Domaines de compétences personnelles.

      •    microsonde électronique de Castaing (WDS).
      •    microscopie électronique à balayage (MEB).
      •    microanalyse X à sélection d'énergie (EDS).
      •    analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD).
      •    microscopie électronique en transmission (MET).
      •    spectrométrie de décharge luminescente (SDL).