IJL

Centre de Compétences en Microscopies,
Microsondes et Métallographie (CC-3M)

Institut Jean Lamour (IJL)
Campus ARTEM
2 allée André Guinier  BP 50840
54011 Nancy Cedex
http://www.ijl.univ-lorraine.fr/

Université de Lorraine (UL)
http://www.univ-lorraine.fr/



  CG
Christine GENDARME
Ingénieur caractérisation des matériaux
Microsonde de Castaing et microscopie électronique à balayage

tél : 03.72.74.24.82
christine.gendarme@univ-lorraine.fr

Présentation de l'Institut Jean Lamour.

L’Institut Jean Lamour (IJL) est un laboratoire de recherche fondamentale et appliquée en science et ingénierie des matériaux et des procédés qui rassemble des scientifiques de différentes disciplines.
Laboratoire multi-thématique, il couvre : les matériaux, la métallurgie, les plasmas, les surfaces, les nanomatériaux et l’électronique.
L’IJL une unité mixte de recherche (UMR 7198) du CNRS et de l’Université de Lorraine. Il est rattaché à l’Institut de Chimie du CNRS.
Ses travaux de recherche sont menés au sein de 23 équipes de recherche organisées en 4 départements scientifiques :
  • Département Physique de la Matière et des Matériaux (P2M) ;
  • Département Chimie et Physique des Solides et des Surfaces (CP2S) ;
  • Département Science et Ingénierie des Matériaux et Métallurgie (SI2M) ;
  • Département Nanomatériaux, Electronique et Vivant (N2EV).
Ils s’appuient sur 9 centres de compétences, 2 services communs et 3 services centraux.
Afin de répondre à un certain nombre d’enjeux sociétaux, l’Institut Jean Lamour a défini 6 axes de recherche transverses qui constituent ses priorités scientifiques : Plasmas chauds et froids ; Fusion Thermonucléaire ; Matériaux artificiels nanostructurés ;     Interfaces avancées pour l’énergie ; Métallurgie, ; Théorie, Modélisations et Simulations ; Matériaux et vivant.
Les équipes de l'IJL sont réparties sur 5 sites :
  • Campus Artem, à Nancy : il s'agit du site principal, qui regroupe la majeure partie des effectifs dans un bâtiment neuf de 28400 m2 conçu par l’Agence Nicolas Michelin et Associés.
  • Faculté des Sciences et Technologies à Vandoeuvre-lès-Nancy : ce site regroupe la moitié équipes de l'IJL ; elles rejoindront le campus Artem en 2018.
  • IUT de Nancy Brabois : ce site accueille l'équipe "Matériaux pour le génie civil" de l'IJL.
  • Institut de Chimie Physique et Matériaux, Technopôle de Metz : ce site accueille l'équipe "Chimie et électrochimie des matériaux".
  • ENSTIB, Epinal : ce site accueille l'équipe "Matériaux bio-sourcés" de l'IJL

Quelques mots sur le CC-MEM.

Le Centre de Compétences en Microscopies, Microsondes et Métallographie offre à la communauté scientifique du Grand Est, universitaires et industriels, un accès à des techniques de caractérisations et d’analyses de premier plan. Sa vocation est de servir d'appui à la recherche en fournissant d’une part des moyens d'investigations très performants et d’autre part les compétences humaines pour conduire les analyses, assister les utilisateurs, les orienter, solutionner les problèmes analytiques et aider au traitement des résultats. Par le biais d’une formation spécifique, il permet aux chercheurs, enseignants chercheurs, personnels techniques et doctorants de l’Institut d’analyser leurs échantillons en complète autonomie.
Les équipements disponibles dans le service sont :
  • un microscope électronique à balayage Quanta 650 FEG de FEI équipé d'un système EDS de type SDD Brüker et d'un système EBSD Oxford ;
  • un microscope électronique à balayage XL30 S-FEG de FEI, équipé d'un système EDS de type SDD Oxford ;
  • une microsonde à effet de champ JXA 8500F Jeol ;
  • deux microscopes électroniques à transmission à effet de champ ARM 200F Cold FEG Jeol équipé pour l’un d'un correcteur de sonde et pour l’autre d’un correcteur en image, d'un système EDS SDD Jeol, d'un GIF Quantum et d'une caméra Orius 200 Gatan ;
  • un microscope électronique à transmission CM200 de FEI, équipé d'un système EDS Si(Li) EDAX, d'un système par perte d'énergie PEELS modèle 666 de Gatan et d'une caméra numérique MSC 794 de Gatan ;
  • un spectromètre de masse d’ions secondaires IMS 7F de Cameca.
  • un microscope d’ions focalisés Hélios Nanolab 600I de FEI.
  • tous les appareils nécessaires à la préparation des échantillons (microscope optique, polisseuses….).

Domaines de compétences personnelles.

  • microsonde électronique de Castaing (WDS).
  • microscopie électronique à balayage (MEB).
  • microanalyse X à sélection d'énergie (EDS).
  • analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD).
  • microscopie électronique en transmission (MET).
  • spectrométrie de décharge luminescente (SDL).