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Mesures, imagerie 3D / reconstruction 3D
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:20:20 am »
14-02-2006
Comment faut-il préparer des échantillons pour être visionnés au MEB dans le but d'une reconstruction 3D ?
Est-il préférable de casser l'échantillon ou de le couper puis le polir avant la métallisation ?
Fabien DUCAT
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Mesures, imagerie 3D / Re : mesure de rugosité en MEB?
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:19:01 am »
Il est bon de préciser que les mesures topographiques par stéréoscopie au MEB résultent de mesures de la disparité, qui est le déplacement de chaque point d'une image à l'autre de la paire stéréo. Ce déplacement est mesuré en pixels, puis converti en microns en tenant compte du grandissement et du nombre de pixels dans l'image.
Pour un point donné, la disparité est d'autant plus importante que l'altitude (par rapport au centre d'inclinaison de l'échantillon) est grande, et que l'écart angulaire entre les 2 images est grand. Il va de soi que la disparité maximale (et donc l'élévation) que l'on peut mesurer ne peut être qu'une fraction de la dimension du champ. La mesure de fortes rugosités imposera donc de balayer de grands champs (au moins trois fois plus grands que la rugosité pour avoir de bons résultats). Au contraire, on ne pourra mesurer correctement de très faibles dénivellations que sur des champs de petite taille, c'est-à-dire à fort grandissement.
Dans tous les cas, il ne faut pas oublier que la technique de reconstruction 3D utilisée repose sur des algorithmes de corrélation.
C'est pourquoi elle ne peut fonctionner correctement que s'il y a dans les images quelque chose à corréler ! En d'autres termes, les "bonnes" images sont celles qui comportent partout des détails fins sur lesquels la corrélation peut aisément "s'accrocher". Au contraire, les images comportant de larges domaines uniformes donneront une reconstruction 3D de mauvaise qualité (ou biaisée si des procédures de lissage ou d'interpolation sont mises en œuvre).
(Jean-Louis POUCHOU -ONERA, Châtillon, co-auteur du logiciel 3D_TOPx distribué par SAMx)
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Mesures, imagerie 3D / Re : mesure de rugosité en MEB?
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:18:30 am »
C'est normalement possible en faisant l'acquisition d'images stéréos et en utilisant ensuite un logiciel spécifique, par exemple le logiciel MEX Alicona commercialisé par la société Alprimage (P. Rolland, mailto:prolland@alprimage.com, http://www.alprimage.com/produits/mex.html).
(R. Chiron - CNRS - LPMTM)
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Mesures, imagerie 3D / Re : mesure de rugosité en MEB?
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:17:52 am »
Il n'est pas possible de mesurer une rugosité à partir d'une image MEB, mais cela est possible à partir de deux images obtenues avec des inclinaisons différentes.
Il faut garder un détail fixe au centre de l'écran (de préférence) pour les deux inclinaisons et garder la même mise au point pour les deux vues sans retoucher au réglage de la focalisation de la lentille objectif, mais en retrouvant la deuxième mise au point en déplaçant le z de la platine porte objet.
Cette procédure est simplifiée si vous possédez une platine eucentrique qui permet d'obtenir les même réglages plus facilement. Après je vous conseille de dépouiller vos deux images avec un des deux logiciels commercialisés soit par SAMx soit par Alprimage, qui vous permettront, outre une représentation 3D, d'effectuer des mesures et donc la rugosité.
(F. Grillon - ENSMP)
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Mesures, imagerie 3D / mesure de rugosité en MEB?
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:17:19 am »
29-11-2005
Est-il possible de mesurer une rugosité à partir des contrastes d'une image MEB (SE2 ou IL) ?
merci
Valette Audrey- CNRS, CECM
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Effets de charges, effet miroir / Re : courant de masse et effet miroir
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:14:20 am »
1° L'effet miroir résulte de la formation d'équipotentielles consécutives à l'implantation d'une charge Q dans un isolant. Si l'épaisseur, e, de l'isolant est assez grande pour que le courant de conduction de l'isolant soit négligeable et donc que Q soit stable (il faut en particulier que le range R soit <<e), l'épaisseur e ne peut modifier les équipotentielles que par les images électriques multiples symétriques de la charge Q par rapport au plan du porte échantillon. En effet miroir quantitatif, cet effet a été calculé par Coelho. A mon avis il est du second ordre par rapport aux différences entre Q (injecté) et Q(implanté) Voir plus bas la réponse à Guezenoc.

2° On oublie trop souvent que le courant de masse est la somme algébrique de deux courants: courant de fuite (ou d'évacuation) + courant d'influence. L'évolution au cours du temps de ces 2 composantes est differente mais l'humidité peut induire une conductivité superficielle accroissant le courant de fuite.
Voir : O. Jbara et al. NIM B 197(2002)114
         J.Cazaux Ecole d'été GN MEBA Grenoble 2006
Réponse de Jacques Cazaux (jacques.cazaux@univ-reims.fr)
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Effets de charges, effet miroir / courant de masse et effet miroir
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:13:02 am »
8-06-2006
Je suis un nouveau utilisateur de MEB, je travaille sur l'effet de charge sur un composite contenant différents taux d'humidité. y a t-il des précautions à tenir compte avant de réaliser l'essai courant de masse et l'effet miroir? (l'eau est un milieu dipolaire)
Pour la réalisation de l'effet miroir et le courant de masse, y a-t-il une influence de l'épaisseur de l'échantillon sur les résultats? ( je travaille sur des composites à matrice polymère)
BEN BRAHIM Hamdi
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Effets de charges, effet miroir / Re : méthode miroir
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:10:20 am »
Commentaire sur la caractérisation des matériaux polymères et composites :
En théorie oui, la méthode miroir devrait permettre d'accéder à la constante diélectrique du matériau puisqu'elle consiste à mesurer, dans le vide, les équipotentielles créée par une charge Q dans le diélectrique et dont l'effet dans le vide est KQ où K dépend de la constante diélectrique.
Mais cela suppose que l'on connaisse la charge Q qui diffère de la charge injectée par les effets (entre autres) de l'émission secondaire (variant éventuellement au cours de l'implantation); du courant de fuite et de la neutralisation des charges par l'atmosphère résiduelle.
Autrement dit les causes d'erreur sont si nombreuses que le résultat risque d'être très décevant si on sait déjà que la constante diélectrique de la plupart des matériaux se situe entre 2 et 5 (sauf exception notable comme celle de l'eau:80)
(Cazaux Jacques- jacques.cazaux@univ-reims.fr)
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Effets de charges, effet miroir / Re : méthode miroir
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:09:42 am »
L’expert français en la matière est Guy Blaise (blaise@lps.u-psud.fr), il a plus de 30 ans d’expérience dans ce domaine. S’intéresse également aux isolants Jacques Cazaux (cazaux@univ-reims.fr)
(F. Grillon - ENSMP) 
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Effets de charges, effet miroir / méthode miroir
« Dernier message par archives le mars 25, 2014, 07:09:21 am »
2-09-2005
Je m'intéresse au phénomène de charges dans les isolants. La microscopie électronique à balayage, via la méthode miroir, permet de caractériser voire de quantifier le phénomène. Parmi, les nombreux adhérents du GN-MEBA, y a t-il un utilisateur de cette technique?
Merci
GUEZENOC Herve- Université Bretagne sud
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