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Maintenance / Système de numérisation MEB ADDA II
« Dernier message par duport.p le janvier 13, 2016, 04:52:51 pm »
Bonjour,

Je suis ingénieur d'étude en microscopie à l'ENSCI (Ecole Nationale Supérieure de Céramique Industrielle) à Limoges.
Je poste ce sujet car j'ai un problème avec un système ADDA II (analogique /numérique), système d'acquisition d'image sur un ancien MEB Cambridge S260.
J'ai contacté le fournisseur Eloïse pour régler mon problème, la seule solution envisageable est une intervention sur notre site. Pour une question de coût, je souhaiterai tester  le boitier ADDAII, hors Eloïse n'a pas de MEB pour vérifier.

Donc je voudrai savoir si un membre du GN-MEBA possède ce vieux système de numérisation d'image, et s'il est possible de tester mon boitier sur leur MEB. Bien sûr je payerai les frais de livraison aller et retour.

Si vous avez des questions, vous pouvez me contacter à mon adresse mail: patrice.duport@unilim.fr


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Mesures d'épaisseurs de stratifiés, de couches minces / STRATAGEM
« Dernier message par juliencitra87 le décembre 22, 2015, 05:09:23 pm »
Bonjour,

J'utilise un supra40 (FEG) avec edx (sdd 50mm²) et logiciel aztek. Je voudrais estimer l'épaisseur d'une couche mince (20nm de cu sur waffer silicium)  suivant mes analyses  EDS (%ato, variation EHT etc...)
Stratagem est il un logiciel payant? GMR film peut il être un biais?
Existe t il des tutoriels pour l'un comme pour l'autre afin de répondre à cette problématique


Merci d'avance et bonnes fêtes à tous

JF
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Généralités sur la préparation d'échantillons / Préparation coupe d'une tige lin
« Dernier message par A.Magueresse le décembre 10, 2015, 03:58:13 pm »
Bonjour,

Je voudrais savoir s'il existe des lames de rasoir circulaire.
Je souhaiterais réaliser une coupe sur une tige de lin, sachant que nous ne possédons pas de microtome...
Merci d'avance

Anthony MAGUERESSE
Université de LORIENT
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Bonjour
Voici 2 images prises en in lens à 3KV d'échantillons  métallisés avec une cible platine, le "grain" est déposé sur une goutte de laque carbone et un contact est fait sur le côté. Il y a toujours assez de matière pour voir la micro structure, si celle-ci n'est pas homogène, je conçois que ça peut être géant. Si les grains sont très fins, il est impossible de déposer une goutte de laque sur le côté, le seul fait d’être dans la "laque carbone" suffit en général pour faire contact, il y a de temps en temps des effets de charge tout de même.
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Merci Suzanne pour votre réponse.

Non effectivement je ne fais pas le contact avec une laque carbone. Je dépose directement la poudre sur du scotch Carbone, puis j'enlève le surplus et je métallise. La partie supérieure seulement des grains étant rendue conductrice, je conçois bien que les charges ne peuvent s'écouler si le contact n'est pas réalisé. Mais l'utilisation d'une laque ne risque-t-elle pas de masquer une partie de la morphologie du grain ? (sur les côtés notamment).

En ce qui concerne la tension d'accélération, travailler à basse HT (1kv-5kV)  n'amplifie-t-il pas  au contraire le phénomène de charge ? Et ne perd-t-on pas en résolution ?

Cordialement.
Merci.
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Bonjour
Est ce que vous faites un contact (gouttes de laque au carbone par exemple sur le côté de vos particules) qui fasse un lien entre la surface que vous observez et le plot sur lequel sont collés vos échantillons?
S'il n'y a pas de contact, les charges ne s'évacuent pas.
Pour observer des matériaux non conducteurs, c'est ce que l'on fait au labo; on travaille aussi à 1 KV ou 3KV avec un petit diaphragme pour avoir peu de courant.
Bon courage!
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Bonjour,

Je suis amené à observer régulièrement des échantillons de types roches, sédiments, poudres... avec un MEB FEG (HV). Je suis souvent confronté à des phénomènes de charges de ces échantillons que je n'arrive pas à éliminer, et ce, malgré une métallisation poussée (plusieurs minutes!) des échantillons par pulvérisation à l'Au-Pd. Les grosses particules chargent particulièrement dès le départ, ce que la métallisation n'améliore pas.

En détection SE-In Lens, ces charges sont particulièrement gênantes, et ne permettent pas d'obtenir des images correctes.

Comment préparez-vous généralement ces échantillons ? Y-a-t-il un moyen d'éliminer totalement ces charges ?

Merci de vos expériences.

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Bonjour,

L'image prise avec le détecteur In-Lens rend mieux compte des informations à la surface de l'échantillon et c'est bien là le génie de ce type de détecteur. On aperçoit par exemple la trace d'une légère contamination laissée par le faisceau sur une partie de l'échantillon observée précédemment avec un grandissement plus fort. Les traces noires sont donc très probablement un dépôt peu épais et/ou de faible numéro atomique moyen. Les secondaires renvoyés par ses particules doivent être de faible énergie et peu nombreux comparés à ceux produits par le matériau situé au-dessous. Ceci en considérant la forte tension d'accélération utilisée qui irradie l'échantillon en profondeur. Le détecteur In-Lens a été conçu pour "pomper" très efficacement les secondaires de faible énergie et il y réussit ici alors que l'autre détecteur est complètement aveugle dans cette gamme d'énergie des secondaires (il est situé trop loin). La situation serait peut-être différente avec une tension plus faible.
Pour ma part, j'aurais envie d'observer cet échantillon à faible tension, avec le détecteur In-Lens et à une distance de travail plus faible. Qui sait si d'autres détails de surface ne seraient pas révélés ?
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Bonjour,


Merci pour cette réponse qui me conforte dans mon idée que nous l'utilisons d'une mauvaise manière.
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Evènements à venir / JP2015 : "Le MEB, un micro-laboratoire"
« Dernier message par admin le mai 16, 2015, 06:50:41 pm »
Les prochaines Journées Pédagogiques auront lieu les lundi 30 novembre et mardi 1er décembre 2015, amphi 25, Campus Jussieu, Paris V.

"Le MEB, un micro-laboratoire"

Toutes les informations sur : http://www.gn-meba.org/reunions_p.htm
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