28-09-2012
Bonjour,
Nous avons installé un EBSD sur un MEB tungstène. Or nous n'arrivons pas a obtenir la netteté sur la totalité du champ d'observation quelques soient les réglages (tension, courant, mode résolution ou profondeur de champ ...) et quelque soit le grandissement (entre 500 et 3000) et même avec focalisation dynamique...
Est-ce que quelqu'un aurait une astuce ?
Merci
Blandine BRUYERE - EDF
< blandine.bruyere@edf.fr>

17-12-2009
Je voulais tout d'abord remercier toute l'équipe qui a permis la bonne organisation des journées pédagogiques des 3 et 4 décembre derniers.
J'ai quelques questions suite à ces rencontres.

1. J'ai cru comprendre qu' en analyse EDS les temps d'acquisition étaient de quelques minutes et qu'il ne fallait pas aller au delà car le critère (ki au carré) se dégradait. Est ce général et dû à la stabilité électronique de la chaine de comptage ou est ce dû au fait que sur les échantillons isolants se chargent progressivement et que la limite Duane Hunt se déplace au cours du temps comme l'a montré Jacques Cazaux ? En gros sur un échantillon conducteur puis je compter pendant 1 heure en EDS pour rechercher des traces par exemple sans problème (avec un DT raisonnable bien sur, inférieur à 30%) ?

2. Pour les problèmes de charge est ce que chauffer l'échantillon (quand c'est possible) ne permettrait pas de résoudre une partie des problèmes. Je pense à un chauffage par porte échantillon chauffant pour les MEBs ou avec un laser (rouge ou vert ?) à travers un hublot pour les Auger qui n'ont pas de photomultiplicateur et donc qui ne craignent pas la lumière (channeltron) ? Pour les matériaux grands gaps j'avais même penser à un éclairage par lampe UV Helium 20 à 40 eV (pour générer des paires électrons trous et non plus seulement pour chauffer) mais Jacques Cazaux m'a dit que celà ne serait pas assez efficace et celà détruirait l'échantillon, y a t'il eu des essais dans ce sens ?

3. Il me semble que le polissage des surfaces entraînent un tartinage des élements (dépend bien sur du type d'échantillon) visible par Auger ou par EDS basse énergie, le polissage n'entraine t'il pas des effets néfastes pire que les problèmes de rugosité de surface ?

Cordialement
Frédéric Wyczisk
<frederic.wyczisk@thalesgroup.com>

18-11-2005
Je souhaite réaliser des analyses EDS semi-quantitatives sur des particules de taille 0.2-5µm en suspension sur une grille TEM, à 80kV. Le logiciel "Voyager" (au manuel un peu succinct) me propose plusieurs méthodes de correction, entre autres ZAF ou MBTS (pour Metallurgical and Biological Thin Section). En gros, doit-on négliger les effets de fluorescence et d'absorption dans ces conditions expérimentales?
Mallet Romain- Université Lyon 1

14-07-2008
Au laboratoire nous possédons un appareil à métallisation pour la MEB (type MED 020 Modular High Vacuum Coating System) qui n'a pas été utilisé depuis longtemps et malheureusement nous ne possédons plus le mode d'emploi.
Merci à ceux qui pourraient me donner des renseignements sur la procédure à suivre avec cet appareil (échantillons biologiques, métallisation à l'or)
Brigitte SCOLARI
Labo de microscopie électronique (brigitte.scolari@bluewin.ch)

17-05-2006
Avec l'evaporateur à effet joule dont je dispose, j'arrive à faire une métallisation à l'or mais pas avec du carbone. j'emets plusieurs hypothéses: - la resistance du creuset ou se trouve le carbone( fibre de carbone et arc electrique) est trop faible pour declancher l'evaporation du carbone - le creuset n'est pas assez dense pour chauffer suffisament et evaporer le carbone. - ou notre machine n'est pas adaptée ou elle est obsolète.
QU'EN PENSEZ VOUS? Merci
Audrey Mounguengueng

21-03-2006
je desire réaliser une métallisation au carbone pour le MEB. Seulement ma métallisation ne marche pas car je la fais en vide secondaire dans un evaporateur à effet joule. Que dois je faire? De plus y a t il un autre element à part le carbone qui permettrait d'avoir une analyse aux rayons X au MEB? Merci
Mounguengui Audrey

3-10-2006
Bonjour à tous.
J'utilise le logiciel Stratagem de la suite SAMx (logiciels Microsonde) pour la mesure de ségrégations superficielles. Pour des échantillons inclinés (tilt), faut-il mesurer aussi le Istd en position inclinée ? (Istd = hauteur de pic mesurée sur le matériau standard)
En d'autres termes, lorsqu'on travaille avec un angle de tilt de 50° par exemple, le Istd apparaissant dans le rapport I/Istd calculé par Stratagem est-il le Istd mesuré en incidence normale ou avec un angle d'inclinaison de 50° ?
Merci de votre aide.
Frederic Christien
LGMPA - Polytech'Nantes