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Messages - suzanne.jacomet

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Généralités sur la préparation d'échantillons / Re : Préparations d'échantillons et phénomènes de charges
« le: novembre 02, 2015, 10:22:33 am »
Bonjour
Voici 2 images prises en in lens à 3KV d'échantillons  métallisés avec une cible platine, le "grain" est déposé sur une goutte de laque carbone et un contact est fait sur le côté. Il y a toujours assez de matière pour voir la micro structure, si celle-ci n'est pas homogène, je conçois que ça peut être géant. Si les grains sont très fins, il est impossible de déposer une goutte de laque sur le côté, le seul fait d’être dans la "laque carbone" suffit en général pour faire contact, il y a de temps en temps des effets de charge tout de même.

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Généralités sur la préparation d'échantillons / Re : Préparations d'échantillons et phénomènes de charges
« le: octobre 29, 2015, 04:38:20 pm »
Bonjour
Est ce que vous faites un contact (gouttes de laque au carbone par exemple sur le côté de vos particules) qui fasse un lien entre la surface que vous observez et le plot sur lequel sont collés vos échantillons?
S'il n'y a pas de contact, les charges ne s'évacuent pas.
Pour observer des matériaux non conducteurs, c'est ce que l'on fait au labo; on travaille aussi à 1 KV ou 3KV avec un petit diaphragme pour avoir peu de courant.
Bon courage!

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Généralités sur la préparation d'échantillons / Re : polissage ionique
« le: mars 09, 2015, 01:40:04 pm »
Merci François pour ta réponse, je sais que tu as participé à la préparation et à l'observation des échantillons que nous avons envoyés à GATAN et je t'en remercie. On vient de les recevoir et je vais aussi les regarder et les analyser avec notre MEB. Ce qui me gène un peu c'est que nous n'avons pas eu de polissage de surface, uniquement des sections.
Y a t'il maintenant un avis pour le dispositif Leica parmi les collègues GNMEBA?

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Généralités sur la préparation d'échantillons / polissage ionique
« le: mars 04, 2015, 06:19:02 pm »
Avant d’acquérir un système de polissage ionique, on aimerait avoir l'avis des utilisateurs des appareils:
-  Leica EM TIC 3X
-  GATAN - ILION
Nos besoins: faire des polissages en sections transverses mais aussi plans.
Merci

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Généralités sur la préparation d'échantillons / Re : décontamination de la surface des échantillons et EVACTRON
« le: octobre 29, 2014, 04:13:56 pm »
Merci pour ces infos. Nous pensons aussi que le plus judicieux serait de monter l'évactron sur le SAS, et avions demandé à ZEISS d'y réfléchir lors de l'achat de notre Supra40 (en 2010), mais il n'y a pas eu de suite...
Quelqu'un a t' il déjà réalisé  (ou fait réalisé) ce montage sur un SAS ZEISS?

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Généralités sur la préparation d'échantillons / décontamination de la surface des échantillons et EVACTRON
« le: juillet 18, 2014, 05:34:47 pm »
Nous travaillons avec un MEB FEG supra 40. Avant d'introduire les échantillons métalliques dans la chambre nous les rinçons à l'éthanol et les séchons soigneusement. Malgré tout des fenêtres de contamination (noires) se forment souvent (travail à 20Kv et fort courant pour EBSD par exemple). Nous envisageons d’acquérir une étuve et d'y mettre nos échantillons à dégazer pendant un certain temps avant de les introduire dans la chambre du MEB. Est-ce que ce protocole est déjà utilisé? Avez-vous des indications à nous apporter concernant la température idéale et le temps de maintien?
D'autre part, ce MEB est équipé d'un EVACTRON. Nous ne l'utilisons pas systématiquement pour décontaminer la chambre car nous avons un SAS. Néanmoins nous avons remarqué que lorsque nous faisons plus de 7min de plasma, la surface des échantillons est bien décontaminée (pour des temps inférieurs, peu de résultat!). avez-vous des informations sur les ajustements des paramètres du système? Est-ce que de l'utiliser systématiquement ne nuit pas aux détecteurs EDs et EBSD présents dans la chambre?
Suzanne CEMEF

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