cliquez
sur l'image pour l'agrandir
2015 * 308 pages
ISBN : 978-2-7598-1912-6
|
EBSD : Analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés - Applications et techniques couplées
SOMMAIRE
- Introduction à la diffraction des électrons rétrodiffusés (A.F. GOURGUES-LORENZON, Mines ParisTech, Evry)
- EBSD - Historique (F. BRISSET, Univ. Paris-Sud)
- Caractérisation de la texture cristallographique,
comparaison des techniques expérimentales de diffraction : rayons X,
neutrons et électrons rétrodiffusés (EBSD) (D. SOLAS, Univ. Paris-Sud)
- Préparation d’échantillons pour une caractérisation EBSD , B. GUERAUD et O. CALONNE, AREVA Le Creusot)
- Analyse EBSD et échantillons isolants (F. BRISSET, Univ. Paris-Sud)
- EBSD et bio-matériaux : l’exemple de la nacre (X. BOURRAT et G. WILLE, BRGM Orléans)
- Analyse combinée EDS et EBSD appliquée à la minéralogie et
à l’obtention de cartographies d’orientation grand champ (G. MORVAN,
J.E. MARTELAT, K. MALAMOUD et K. SCHULMANN, LHyGeS Strasbourg)
- Traction et recuit in-situ analysés par EBSD (A.L. Helbert, F. BRISSET et Th. BAUDIN, Univ. Paris-Sud)
- Couplage EBSD et essais mécaniques in situ en MEB Méthode
de mesure du glissement intergranulaire lors du fluage à 850°C d'un
superalliage à base de nickel (D. BOIVIN et Y. RENOLLET, ONERA
Chatillon)
- 3D EBSD (S. ZAEFFERER, S.I. WRIGHT and P.J. KONIJNENBERG, Max-Planck-Institut, Düsseldorf, Allemagne)
- Le couplage multiple en microscopie électronique à balayage
: EBSD / EDS et RAMAN (G. WILLE, A. LAHFID, N. MAUBEC et X. BOURRAT,
BRGM Orléans)
- High angular resolution EBSD for measurement of strain and residual dislocation density (D.J. DINGLEY, TSL-EDAX, Utah, USA)
- Diffraction Kikuchi en transmission dans le MEB (F. GASLAIN, Mines ParisTech, Evry)
- La microdiffraction Kossel - Détermination des déformations
et contraintes à l’échelle du micromètre (D. BOUSCAUD, R. PESCI, S.
BERVEILLER et E. PATOOR, ENSAM Metz)
La microscopie électronique à
balayage et les microanalyses associées, et en particulier l’analyse
EBSD, sont impliquées dans des domaines extrêmement variés et
recouvrant toutes sortes de matériaux. Dès lors qu’ils sont
cristallisés, l’EBSD peut être utilisée et c’est devenu une technique
de choix depuis que son potentiel a été mis en évidence par rapport aux
autres techniques de diffraction dans un MEB en 1981 et depuis qu’elle
est devenue une technique automatique en 1992. Parmi les principaux
matériaux, nous pouvons nommer les métaux, les céramiques, les roches,
les biomatériaux, les verres, etc. et cette technique est maintenant
largement utilisée aussi bien dans les milieux académiques que dans les
milieux industriels. L’ensemble des bases théoriques, les principales
caractéristiques techniques et analyses combinées ainsi que des
applications spécifiques sont développées dans cet ouvrage.
De plus, la préparation des
échantillons, souvent critique, l’acquisition sous haut vide ou vide
contrôlé, les associations à des techniques complémentaires (EDS,
Raman, essais in-situ) sont exposées. A coté de ces piliers
structurants, d’autres points sont abordés tels que l’amélioration de
la résolution spatiale avec l’EBSD en mode transmission, l’EBSD en
haute résolution angulaire, l’EBSD 3D, etc.
Ce volume en langue française,
unique, est une version totalement refondue d’une précédente édition de
2004 aujourd’hui épuisée. Il regroupe la plupart des conférences
dispensées lors des journées pédagogiques 2013 sur l’EBSD, et
organisées par le Groupement National de Microscopie Electronique à
Balayage et de microanalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement
recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes
en science des matériaux cristallins (conducteurs ou non-conducteurs,
etc.) désireux de s’investir dans cette puissante technique d’imagerie
et d’analyse, afin d’en exploiter pleinement ses forts potentiels. Il a
été écrit par les orateurs de ces journées et d’autres experts
internationaux. Le GN-MEBA est particulièrement reconnaissant envers
David Dingley, Stuart Wright et Stefan Zaefferer qui ont donné leur
accord pour participer à l’écriture de deux chapitres, en anglais, de
cet ouvrage.
|
