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2018 * 1008 pages
ISBN : 978-2-7598-2322-2

Microscopie électronique à balayage et Microanalyses
(nouvelle édition)

SOMMAIRE

• Un peu d’histoire… Voyage aux origines de la microscopie électronique à balayage et de la microanalyse– J. RUSTE
• Introduction – M. REPOUX, L. MANIGUET, F. ROUSSEL-DHERBEY, J. RUSTE
• Les interactions électron-matière – F. CHARLOT, P. JONNARD
• Le rayonnement X caractéristique, le rayonnement de freinage – P. JONNARD
• Les canons à électrons en MEB – F. ROUSSEL
• Les éléments de l'optique électronique – J. RUSTE
• Les techniques du vide – J. RUSTE
• Les détecteurs utilisés dans le MEB – F. GRILLON, F. GASLAIN
• La formation et l'optimisation de l’image en MEB – A. JADIN
• Guide d'utilisation pratique du MEB – F. ROUSSEL, F. CHARLOT, F. GRILLON
• La microscopie électronique à balayage à pression contrôlée – C. MATHIEU, M. REPOUX
• La microscopie à pression contrôlée - applications – M. REPOUX, C. MATHIEU, R. PASSAS, G. THOLLET
• Le spectromètre de rayons X à sélection d’énergie (EDS) – J. RUSTE, F. BRISSET, A. MALCHERE, L. MANIGUET
• L'analyse EDS – F. BRISSET, D. BOIVIN
  
• Les cartographies X EDS – A. MALCHERE, C. GENDARME, D. BOIVIN
  
• Les aspects technologiques de la spectrométrie à dispersion de longueur d'onde (WDS) _A. CRISCI, J. RUSTE
• Les spectrométries EDS et WDS : traitement des spectres – J. RUSTE
• Les méthodes de quantification en microanalyse X – J.-L. POUCHOU
• La microanalyse quantitative en WDS des éléments très légers – J. RUSTE
• Statistiques, précision et limites de détection en microanalyse X – F. ROBAUT 
• L'analyse d’échantillons stratifiés – J.-L. POUCHOU 
• La cristallographie appliquée à l'EBSD – T. BAUDIN, A.-L. HELBERT 
• L'EBSD : historique, principe et applications – T. BAUDIN, F. BRISSET  
• L'analyse EBSD – F. BRISSET
• Diffraction de type Kikuchi en mode transmission (TKD) E. BOUZY, F. BRISSET, E. BRODU
• L’imagerie par contraste de canalisation des électrons (ECCI) – N. MALOUFI, H. MANSOUR
• Simulation des trajectoires électroniques par méthode de Monte Carlo : stratégies possibles et applications au MEB et à la microanalyse X – J.-L. POUCHOU
• Les matériaux isolants en MEB et en microanalyse X – J. CAZAUX
• Les matériaux isolants – A. JADIN, M. SIMOES
• La métallisation des échantillons – F. ROUSSEL 
• Un aperçu des techniques de préparation des échantillons biologiques – P. HALLEGOT  
• Exemples de préparations et observations d’échantillons biologiques en MEB – D. DUPEYRE, J.P. LECHAIRE, P. HALLEGOT  
• Reconstruction 3D de surfaces rugueuses à partir d’images stéréoscopiques de MEB – D. BOIVIN, J.-L. POUCHOU
• Reconstruction 3D de surfaces rugueuses à partir d’images stéréoscopiques de MEB, complément pratique – D. BOIVIN, J.-L. POUCHOU  
• Image MEB : du traitement numérique à l'analyse quantitative – J.M. CHAIX, J.M. MISSIAEN
• Le MEB STEM – F. GRILLON, F. ROUSSEL, G. WILLE, F. CHARLOT
• Les essais mécaniques in situ – R. CHIRON
• La maintenance et le contrôle du MEB et de la microanalyse X – F. GRILLON, C. GENDARME, F. GASLAIN
• L'assurance qualité et la normalisation – F. GRILLON, M. REPOUX
• La place du MEB dans les techniques expérimentales – J. RUSTE
• Le microscope à double colonne MEB- FIB – F. ROBAUT, M. REPOUX, J. RUST, G. AUVERT
• Une introduction à la MET – P. DONNADIEU
• La microanalyse X sur échantillons minces – J. RUSTE
• Une introduction à la cathodo-luminescence des semi-conducteurs – F. DONATINI
• Une introduction à la spectrométrie Raman – A. CRISCI, G. WILLE
  
  

La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L’ensemble des bases théoriques (interactions électrons-matière, rayonnement X), les  principales caractéristiques techniques (canon, optique électronique, détecteurs, vide et maintenance), ainsi que des compléments pratiques  d’utilisation liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont ainsi  amplement détaillés, de même que les microanalyses EDS, WDS et EBSD. À coté de ces piliers structurants, d’autres techniques d’analyse ou d’observation sont abordées, telles l’analyse TKD et l’imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, l’ECCI et la micro-analyse des couches minces. Des notions sur les échantillons biologiques, le raman ou la cathodo-luminescence, etc. sont présentées.

Ce volume en langue française, unique, est la nouvelle version de l’édition de 2008, aujourd’hui épuisée. Il regroupe, principalement, les cours dispensés lors de l’école d’été de Saint-Martin d’Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA) et les laboratoires locaux mais l’ensemble a été revu et complété par de nouveaux chapitres. Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s’investir dans toutes ces techniques d’imagerie et d’analyse, afin d’en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l’école d’été et d’autres spécialistes, tous ingénieurs ou chercheurs et experts dans leur domaine.

Cet ouvrage s’inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en Microanalyses.