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SOMMAIRE

• Bases physiques et programmation de la simulation des trajectoires électroniques dans une cible par la méthode de Monte-Carlo (J. HENOC, SAM'X, Guyancourt, F. PICHOIR, ONERA, Chatillon)
• Simulation de Monte-Carlo et analyse des isolants : quelles difficultés et quelles solutions ? (J. CAZAUX, O. JBARA, LASSI , Université de Reims)
• Apport de la simulation de l'émission X au STEM à la caractérisation des matériaux à microstrusture divisée (M. AOUINE, C. ESNOUF, INSA, Villeurbanne)
• Quelques aspects pratiques de l'étude des isolants en microanalyse X (M. FIALIN, Univ.P.M. Curie, Paris, G. REMOND, BRGM Orléans)
• Modèles de quantification : réalités et perspectives (C. MERLET, Université des Sciences et Techniques de Montpellier)
• Analyse quantitative par sonde électronique : principes physiques généraux de modèlisation et description du nouveau programme INTRIX (P.F. STAUB, CAMECA, Courbevoie)
  

La réunion des 29 et 30 janvier 1996 à Paris, et la publication du présent ouvrage qui a suivi, ont eu pour objet de rendre compte des progrès obtenus dans la connaissance des phénomènes physiques mis en jeu en microanalyse X, depuis la parution, dans les années 1985-1987, des deux ouvrages "Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X" et "Microanalyse par sonde électronique : aspects quantitatifs". Grâce à l'augmentation des capacités de calcul des mini et micro ordinateurs, les simulations par la méthode de Monte-Carlo ainsi que les modèles de correction peuvent s'appliquer aux échantillons massifs, stratifiés (qui se généralisent en métallurgie et dans l'industrie du semiconducteur) ou présentant des microstructures divisées. L’analyse des échantillons isolants pose des problèmes particuliers qui sont abordés du point de vue des modifications apportées par le faisceau d’électrons et des conséquences sur le traitement des données. Après ce point sur l'état de l'art, quelques perspectives sont ébauchées.

SOMMAIRE

• Interaction électrons-matière (J. RUSTE, EDF Les Renardières)
• La microscopie ionique à champ et la sonde atomique (A. MENAND, Faculté des Sciences de Rouen)
• Le rayonnement synchrotron, ses applications (J. LAGARDE, LURE, Orsay)
• La diffusion de neutrons aux petits angles (C. de NOVION, Lab. Léon Brillouin, Saclay)
• Le SIMS-TOF, principe et utilisadon (A. MIGEON, Université de Luxembourg)
• La spectrométrie à décharge luminescente, principe (M. BOUCHACOURT, EDF Les Renardières)
• La SDL, analyse d'échantillons isolants (J.L. BEAUDOIN, RENAULT, Boulogne Billancourt)
• Le HREELS (R. CAUDANO, Lab. LISE, Namur)
• L'imagerie ESCA haute résolution (W. BRUNATS, CENATS, Université Claude Bernard, Lyon)
• La microscopie Raman (P. DHAMELINCOURT, LASIR, Université de Lille)
• Un accessoire Raman sur une microsonde (M. TRUCHET, CNRS / UPMC Paris)
  

Cet ouvrage fait le point sur les techniques récentes de micro et de nano-analyse qui ont fait l'objet de la réunion des 28 et 29 janvier 1993 à Paris. Après un exposé général sur les interactions rayonnement-matière et les résolutions spatiales qu'on peut attendre, différentes techniques permettant d'analyser un volume limité ou une surface sont décrites. Ce sont les techniques utilisant les ions : sonde atomique, émission ionique secondaire (SIMS et SIMS-TOF), l’émission lumineuse résultant d'un plasma d'ions (SDL), les neutrons, le rayonnement X (photoémission en rayonnement synchrotron, ESCA), les électrons (spectroscopie HREELS), le rayonnement laser (effet Raman). En conclusion, des tableaux comparatifs permettent de choisir une méthode d'analyse en fonction du problème à traiter.

SOMMAIRE

• La surface : aspects physico-chimiques et géométriques. (TRAN MINH DUC, Univ. Claude Bernard, Lyon)
• La microscopie confocale. (J.M. CHAUVET, Tracor France, Evry)
• Microspectrométrie de fluorescence. (J.P. CORNARD, Univ. Sciences et Techniques de Lille)
• La microscopie électronique en biologie. (P. GOUNON, Institut Pasteur, Paris)
• La microscopie à effet tunnel. (S. GAUTIER, Univ. P.M.Curie, Paris)
• La microscopie à forces atomiques : quelques aspects pratiques. (F. CREUZET, CNRS/Saint Gobain, Aubervilliers)
• La microscopie tunnel optique. (D. COURJON, Univ. Franche-Comté, Besançon)
• Microscopie X par projection et microtomographie. (J. CAZAUX et coll., Univ. des Sciences, Reims)
• La microscopie acoustique. (J.M. SAUREL, Univ. Sciences et Techniques Montpellier)
  

La plupart des nouvelles techniques de microscopie sont décrites dans cet ouvrage regroupant les textes des interventions de la réunion des 23 et 24 janvier 1992 à Paris. Après une introduction  traitant des aspects géométriques et physico-chimiques de la surface, les microscopies optiques sont abordées (microscopie confocale et à balayage laser, microscopie de fluorescence). La microscopie électronique (balayage et transmission) apparaît dans ses derniers développements pour la biologie. Les microscopies à pointes font l’objet de plusieurs chapitres de cet ouvrage : microscopie à effet tunnel (STM), microscopie à force atomique (AFM), microscopie optique en champ proche (SNOM). Les principes de base ainsi que les aspects pratiques des microscopies à pointes sont traités. La microscopie par projection de rayons X et la microscopie acoustique complètent ce tour d'horizon.