Les techniques microscopiques pour l'identification de l'origine de pertes de performance dans des cellules photovoltaïques à base de CIS

V. Bermúdez (1,3), C. M. Ruiz (1), E. Saucedo (3). V. Izquierdo (2), A. Pérez-Rodriguez (2)

(1) IRDEP, Institute de Recherche et Développement sur l'Energie Photovoltaïque (EDF R&D, CNRS, ENSCP), 6 Quai Watier, 78401 Chatou Cedex
(2) EME/CERMAE, Departament d'Electrònica, Universitat de Barcelona, C. Martí i Franquès 1, 08028 Barcelona, Spain
(3) NEXCIS, Z. I. 190, Av Celestin Coq, 13790 Rousset

Le dépôt de CuIn(S,Se)2 par des procédés chimiques par voie humide et en particulier par des méthodes de électrodéposition s'avère une solution très intéressante pour le développement de cellules solaires à bas coût. Le projet CISELTM CuIn (S, Se)2 ELectrodeposé a été conçu pour atteindre l'objectif de cellules solaires à bas coût avec un rendement de conversion photovoltaïque le plus élevé possible.
Afin de réaliser une pleine exploitation des possibilités de coût bas de ces technologies, une amélioration sur le rendement et les efficacités de production et de conversion photovoltaïque sur des vastes zones sont les questions les plus importants à résoudre. Ceci exige du développement des techniques et méthodologies appropriées pour comprendre les pertes électriques dans le dispositif d'un point de vue du matériel qui constitue chaqu'une de couches de la cellule solaire. De cette façon les techniques microscopiques jouent un rôle principal quand elles sont conjuguées avec l'optoélectronique.
Dans ce séminaire je présenterai l'importance que les techniques microscopiques ont dans le diagnostic des pertes électroniques en piles solaires de CISELTM et comment l'identification d'origine matérielle nous aide à optimiser le processus de fabrication de notre cellules solaires.