Mise en évidence de la croissance de whiskers en Microscopie Electronique à Balayage

Agnès LINA

EDF Moret sur Loing

Certaines tôles en acier zingué ou cadmié des matériels électroniques sont sensibles au phénomène d'apparition et de croissance de whiskers. Les whiskers, fines aiguilles ou filaments, en atteignant plusieurs millimètres de long sont susceptibles de créer des courts-circuits intempestifs mettant en défaut les installations.

Le mécanisme conduisant à l'apparition des whiskers d'étain est relativement bien connu contrairement à celui conduisant à la formation des whiskers de zinc et de cadmium. Pour mettre en évidence l'apparition du phénomène, nous avons réalisé des tests de vieillissement accéléré. Ces tests sont effectués à l'aide d'un four installé dans un MEB environnemental.