La tomographie électronique: du MET au MEB
Agnès BOGNER
Laboratoire MATEIS UMR CNRS 5510, INSA-Lyon, 7 avenue Jean Capelle,
69621 Villeurbanne
La tomographie aux rayons X a été la première technique
basée sur la reconstruction d'un volume à partir d'une
série d'images acquises sous différents angles de vue
lors de l'inclinaison d'un objet [1]. La résolution spatiale
obtenue est micronique avec des tomographes de laboratoire, voire submicronique
si un rayonnement synchrotron est utilisé. Néanmoins,
les matériaux actuels présentant des structures nanométriques,
ces approches demandent à être complétées
par des méthodes plus résolues.
Le développement de la tomographie électronique en MET
[2] a permis d'obtenir des informations 3D à l'échelle
du nanomètre mais au détriment des volumes reconstruits
(quelques dizaines de nm3 contre plusieurs dizaines de cm3 pour la tomographie
X). L'acquisition des images successives s'effectue dans les différents
modes d'imagerie utilisées en MET : champ clair, imagerie filtrée
en énergie (EFTEM), champ sombre annulaire (STEM ADF ou HAADF).
L'imagerie STEM peut également être réalisée
dans un MEB. Bogner et al. ont montré que ce mode était
intéressant sur plusieurs points : contraste important, grandes
épaisseurs traversées, basse tension, mode environnemental
[3]-[4]. Ces atouts spécifiques ont été mis à
profit dans la tomographie STEM en MEB, développée par
analogie à l'approche de reconstruction tomographique en MET
en mode STEM HAADF [5]. Cette nouvelle approche complète la palette
des méthodes de caractérisation 3D : la résolution
spatiale et la taille des volumes reconstruits sont intermédiaires
entre la tomographie X et la tomographie MET.
Une introduction générale sera présentée
concernant la tomographie électronique. Puis l'accent sera mis
sur le mode STEM en MEB et le développement de la tomographie
dans un MEB. Enfin, quelques exemples de caractérisation de microstructures
en sciences des matériaux seront présentés de manière
comparative par les deux approches de reconstruction tomographique,
MET et MEB [6].
[1] B. P. Flannery et al., Science 237 (1987) 1439-1444
[2] D. J. de Rosier, Nature 217 (1968) 130-134
[3] A. Bogner et al., Ultramicroscopy 104 (2005) 290-301
[4] A. Bogner et al., Micron 38 (2007) 390-401
[5] P. Jornsanoh et al., Ultramicroscopy (in press)
[6] Nous remercions le Centre Lyonnais de Microscopie pour l'accès
aux instruments, MEB et MET.