Microscopie Electronique et Résolution sous Environnements Gazeux : Exemples des interfaces et de la silice SiO2
L. KHOUCHAF* , A. ZOUKEL
Univ-Lille Nord de France, Ecole des Mines de Douai, 941 rue Charles Bourseul, 59508 Douai
*E-mail: lahcen.khouchaf@mines-douai.fr
L’étude
que nous proposons concerne à la fois la physique fondamentale des
interactions électron-matière (solide et gaz), le développement
méthodologique et instrumental, et la caractérisation des
matériaux céramiques d’intérêt industriel comme les composés SiO2,
les polymères et les interfaces entre matériaux.
Dans une première
partie nous évoquerons la caractérisation des phénomènes induits par le
gaz, plus particulièrement les interactions entre les électrons
incidents et le gaz dans la chambre d’un microscope dit "gazeux" ou
"environnemental". Une large étude expérimentale servira à définir
l’impact de ces interactions et les principaux paramètres mis en jeu.
Un deuxième volet sera consacré à de nouvelles approches
développées et validées pour la quantification de la résolution à
l’interface entre multi-matériaux qui reste un problème posé pour toute
caractérisation microscopique et spectroscopique de propriétés
de matériaux composites et hétérogènes. La notion de poire
d’interaction souvent admise, verra sa définition et son contenu
modifiés.
Références :
- L. Khouchaf, “Gaseous Scanning Electron Microscope
(GSEM): Applications and Improvement”, Scanning Electron Microscopy, Viacheslav
Kazmiruk (Ed.), ISBN: 978-953-51-0092-8, InTech, (2012).
- A. Zoukel, L. Khouchaf, C. Arnoult, J.Di. Martino, D.
Ruch, « A new approach to reach the best resolution of X-Ray Microanalysis in
the Variable Pressure SEM”, Micron, Volume 46, (2013) 12-21.
- L.
Khouchaf, « The surface skirt in Gaseous
Scanning Electron Microscope GSEM”, journal Microscopy Research, 1 (2013) 29-32.
- A. Zoukel, L.
Khouchaf, J.Di. Martino, D. Ruch, "The Interfacial EDS Profile X-ray Resolution
Measurements in the Variable Pressure SEM", Microscopy and Microanalysis,
20, 1565–1575, 2014.
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