Le FIB et la sonde atomique tomographique au service de la caractérisation des joints de grains irradiés aux ions 

Quentin BARRES
ONERA Châtillon

La caractérisation de joints de grains à la sonde atomique tomographie (SAT) nécessite une préparation d'échantillon soignée.
L'objectif est d'obtenir une pointe avec un rayon de courbure de 50 nm contenant un joint de grains dans ses 200 premiers nanomètres, ce qui implique l'utilisation d'un MEB-FIB.

Couplé à l'EBSD et à la configuration en transmission (TKD), cela permet d'avoir une caractérisation de la structure du joint de grains ainsi qu'un contrôle des différentes étapes d’usinage sous faisceau d'ions