Apport de la microscopie électronique à balayage couplée à l'interférométrie à lumière blanche lors de l'étude de revêtements anticorrosion à base de polymères dopés.

Claire Arnoult*, Olivier Buchheit, Doriane Del Frari, Fatima Eddoumy, Jean Di Martino, David Ruch
(*contact : claire.arnoult@tudor.lu)

CRP Henri Tudor
Laboratoire de Technologies Industrielles
L-4002 Esch-sur-Alzette, Luxembourg

La législation européenne interdit depuis le 1er janvier 2006 l'usage du chrome hexavalent dans les procédés de passivation des métaux du fait de sa toxicité. Les revêtements d'hexaméthyldisiloxane (HMDSO) dopés par des nanoparticules à base de cérium sont une alternative intéressante du fait des bonnes propriétés barrière des siloxanes et des propriétés actives attendues du cérium. Dans cette étude, les revêtements HMDSO/Cérium sont déposés en films minces par plasma atmosphérique. L'optimisation des paramètres de dépôts en fonction des propriétés recherchées nécessite une caractérisation approfondie de l'état de surface et de la composition chimique de ces films.
La Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et interférométrie à lumière blanche (acronyme anglais : WLI) ont permis de caractériser la morphologie des films, la distribution effective des nanoparticules dans le polymère ainsi que de mesurer de manière quantitative la topographie et leur épaisseur. En particulier, grâce à une méthode de localisation précise à la surface des échantillons, il a été possible de recombiner les informations et d'obtenir des images " 4D " des revêtements (les 3 dimensions de l'espace et une dimension de composition chimique). Ainsi il est possible d'évaluer quantitativement les relations entre la rugosité de la surface et la concentration et la dispersion des nanoparticules.