Préparation des échantillons en vue de caractérisations EBSD

Bénédicte BRUGIER
AREVA NP, Le Creusot

La faible profondeur d'échappement des électrons contribuant à la formation des clichés de diffraction EBSD oblige l'opérateur à être très exigeant sur la préparation des échantillons (pas d'écrouissage de surface, pas de rugosité, propreté, etc.).
Ceci est en partie dû au fait que cette technique requiert une inclinaison de l'échantillon de 70°.

La présentation établira un passage en revue des différentes techniques de préparation de surface et des bonnes pratiques associées.
Les avantages et les inconvénients de chaque technique de préparation seront discutés.