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mise à jour : 15 dec 2016

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Journées Pédagogiques des 28 et 29 novembre 2016 à Jussieu : "Caractérisation chimique en MEB et microsonde-Apport de la spectrométrie WDS"
Lundi 28 novembre
09h00 - 09h30 -
Accueil des participants
09h30 - 10h30 -
La spectrométrie par dispersion de longueur d’onde WDS, Introduction 
Jacky RUSTE, GN-MEBA résumé
10h30 - 14h00 -
Exposition Constructeurs et Stand EDP Sciences, (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.
14h00 - 14h30 -
Assemblée Générale du GN-MEBA
14h30 - 15h00 -
Comment travailler en WDS quand on vient de l’EDS ? Les différences, les similitudes, etc.
Christine GENDARME, Institut Jean Lamour, Université de Lorraine, Nancy - résumé
15h00 - 15h30 -Comment analyser un échantillon en WDS ? Les différentes étapes
Marie-Eline COUTURIER, Societe Francaise Ceramique, Les Ulis - résumé
15h30 - 16h00 -
Les technologies WDS en faisceaux parallèle et convergent
Florence ROBAUT, Université Grenoble Alpes, CNRS, SIMaP; CMTC, Grenoble INP - résumé
16h00 - 16h30 -
Pause
16h30 - 17h00 -
Microanalyse WDS: du signal détecté au k-ratio
Guillaume WILLE, BRGM, Orléans - résumé
17h00 - 17h30 -
La dispersion du rayonnement X : cristaux et réseaux
Philippe JONNARD, UPMC, Paris - résumé
17h30 - 18h00 -
WD-XRF en cosmétique 
Philippe HALLEGOT, L'Oreal Recherche Aulnay-sous-Bois - résumé
Mardi 29 novembre
09h00 - 09h30 -
Couplage EDS / WDS en MEB et applications
Denis BOIVIN, Onera, Chatillon - résumé
09h30 - 10h00 -
Quantification en EDS et WDS: aspects pratiques
Andrea CAMPOS, CP2M, Université Aix Marseille - résumé
10h00 - 10h30 -
Comparaison WDS en MEB et microsonde
Fabrice GASLAIN, Centre des Matériaux, MINES Paristech, Evry - résumé
10h30 - 11h00 -
Pause
11h00 - 11h30 -
Intérêt des sources FEG en microsonde électronique
Emmanuelle BRACKX, CEA Marcoule - résumé
11h30 - 12h00 -
Contribution de la microsonde électronique à la caractérisation des couches minces
Alexandre CRISCI, Université Grenoble Alpes, CNRS, SIMaP - résumé
12h00 - 12h30 -
Analyses sur des matériaux assez exotiques (UO2-PuO2-Am2O3)
Gauthier JOUAN, CEA Marcoule - résumé
12h30 - 14h15 -
Déjeuner libre
14h15 - 14h45 -
Cartographie élémentaire des mineurs et traces pour comprendre l’histoire de cristallisation des roches métamorphiques
Benoît DUBACQ, Camparis UPMC, Paris - résumé
14h45 15h15 -
Ech test : résultats des tests et un regard spécial pour le WDS
Jacky RUSTE, GN-MEBA


Journées Pédagogiques des 30 novembre et 1er décembre 2015 à Jussieu : "Le MEB, un micro-laboratoire"
Lundi 30 novembre
09h00 - 09h30 : Accueil
09h30 - 10h30 :
Le MEB a 50 ans - Revue d’actualités - Echantillon test , Jacky RUSTE, GN-MEBA
10h30 - 14h00 : Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.
14h00 - 14h30 :
Assemblée Générale du GN-MEBA
14h30 - 15h00 :
L'ESEM un outil pour tout faire: de la caractérisation mécanique des fibres cellulosiques à ... l'électronique imprimée - Raphael PASSAS, Pagora INP Grenoble résumé
15h00 - 15h30 : Cosmétique in situ dans le MEB - Philippe HALLEGOT, L'Oreal Recherche Aulnay-sous-Bois résumé
15h30 - 16h00 :
Cryo / SEM, au plus proche de l'état natif - Perrine BOMME, Institut Pasteur Paris résumé
16h00 - 16h30 : Pause
16h30 - 17h00 :
Observations de différents échantillons en microscopie corrélative intégrée: fluorescence et microscopie électronique à balayage (iLSEM) - Isabelle PAINTRAND, LMPG INP Grenoble résumé
17h00 - 17h30 :

La résolution spatiale en mode environnemental: exemple des BSE - Lahcen KHOUCHAF, Ecole des Mines de Douai résumé
ANNULE
Imagerie en électrons rétrodiffusés - Raynald GAUVIN, Univ McGill Montreal résumé
Mardi 1er décembre
09h00 - 09h30 : Couplage microscopies optique et électronique pour essais micromécaniques in situ - Denis BOIVIN, ONERA Chatillon
09h30 - 10h00 : Nano-indentation in situ au MEB - Solène COMBY, SIMAP Grenoble
10h00- 10h30 :
Illustration des couplages MEB / spectroscopie Raman et MEB /  microanalyse X (EDS et WDS) par quelques applications dans les  domaines des matériaux de l'industrie appelés à fonctionner à haute  température, des milieux naturels carbonatés et des produits de  l'agro-alimentaire - Yannick ANGUY,  ENSAM Bordeaux résumé
10h30 - 11h00 :
Pause
11h00 - 11h30 :

Le dual beam SEM-FIB et sa baguette magique - Jean-François MOTTE, Institut Néel, CNRS Grenoble résumé
11h30-12h00
Les applications du FIB / SEM en biologie - Adeline MALLET, Institut Pasteur Paris résumé
12h00-12h30
Couplage de techniques électroniques - Maxime BERTHE, IEMN ISEN Lille résumé
12h30 - 14h15 :
Déjeuner libre
14h15 - 14h45 :

Prises de contact et caractérisations électriques de nano-composants dans un MEB - Fabien BAYLE, IEF Orsay résumé
14h45 - 15h15 :

Micro-usinage, préparation et cisaillement in-situ d'un monocristal sous MEB-FIB - Thomas TANCOGNE DEJEAN, LMS Ecole Polytechnique Palaiseau résumé
15h15-15h45
Essais in situ instrumentés - Ovidiu BRINZA, LSPM CNRS Villetaneuse

Journées Pédagogiques des 4 et 5 décembre 2014 à Jussieu :

"La basse énergie en MEB et les microanalyses"
Jeudi 4 décembre
09h00 - 09h30 : Accueil
09h30 - 10h30 :
Pourquoi vouloir absolument travailler à basse tension? Intérêts et limitations. (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé
10h30 - 14h00 : Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.
14h00 - 14h15 :
Assemblée Générale du GN-MEBA
14h15 - 14h30 :
Présentation du nouveau forum du site GN-MEBA. (Fabrice Gaslain, Mines ParisTech, PSL - Research University, Evry 91)
14h30 - 15h00 :
Qu'est-ce qu'une surface ? (Evelyne Darque-Ceretti, Mines ParisTech, PSL - Research University, CEMEF, Sophia Antipolis 06) résumé
15h00 - 15h30 : Préparation des échantillons pour analyse à basse énergie. (Patrice Lehuédé, C2RMF, Paris 75) résumé
15h30 - 16h00 :
Emission d'électrons secondaires et rétrodiffusés à très basse énergie d'incidence (5eV-1keV). (Mohamed Belhaj, Onera, Toulouse 31) résumé
16h00 - 16h30 : Pause
16h30 - 17h00 :
Les émissions X caractéristiques de basse énergie. (Philippe Jonnard, UPMC, Paris 75) résumé
17h00 - 18h00 :

Imagerie et analyses chimiques à haute résolution spatiale, à basse tension d'accélération des électrons, avec un FE-SEM de pointe. (Raynald Gauvin, Univ. Mc Gill Montréal) résumé

17h00 - 17h45 :

PRESENTATION ANNULEE : De la physique des émissions électroniques aux contrastes des images en MEB. (Jacques Cazaux, Université de Reims, Reims 51) résumé

Nous avons la douleur d'apprendre  le décès de Monsieur Jacques CAZAUX,
survenu le 4 décembre 2014 à 14h00 à la clinique des Bleuets à Reims.

Vendredi 5 décembre
09h00 - 09h30 : Les solutions technologiques en microscopie électronique à balayage pour l'imagerie à basse tension. 1ère partie : les canons et les colonnes. (Francine Roussel, CMTC, INP Grenoble, St Martin d'Hères 38) résumé
09h30 - 10h00 : Les solutions technologiques en microscopie électronique à balayage pour l'imagerie à basse tension. 2ème partie : les détecteurs. (Frédéric Charlot, CMTC, INP Grenoble, St Martin d'Hères 38) résumé
10h00- 10h30 :
Pause
10h30 - 11h15 :

Applications micro-électroniques de faisceau d'électrons à basse énergie et criticité de la contamination (Mona Moret, Cameca, Gennevilliers 92) résumé
11h15 - 12h00 :

Cathodoluminescence dans le MEB: Apport de la basse tension. (Brigitte Sieber, Université de Lille, Villeneuve d'Ascq 59) résumé
12h00 - 13h45 :
Déjeuner libre
13h45 - 14h15 :

Analyse des couches minces superficielles à basse tension. (Florence Robaut, CMTC, St Martin d'Hères 38) résumé
14h15 - 14h45 :

Spectrométrie de rayons X à basse tension. (Guillaume Wille, BRGM, Orléans 45) résumé
14h45 - 15h30 :

Microanalyse X basse tension, quelle précision peut-on en attendre ? (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé

Journées Pédagogiques des 25 et 26 Novembre 2013 à Jussieu :

"L'analyse EBSD – Evolutions et exemples d'application"
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Lundi 25 Novembre 2013
09h00 - 09h30 :  Accueil
09h30 - 10h30 :
Résultats concernant l'échantillon test, analyses statistiques (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé
10h30 - 14h00 :

Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.
14h00 - 14h30 : Assemblée Générale du GN-MEBA
14h30 - 15h15 :
Etat de l'art, techniques de diffraction en MEB et généralités sur l'EBSD ( Anne-Françoise Gourgues-Lorenzon, Mines-Paristech, Evry) résumé
15h15 - 15h45 :
Historique (François Brisset, Université Paris-Sud, Orsay) résumé
15h45 - 16h15 :
Pause
16h15 - 16h45 :
Notions de cristallographie pour l'EBSD. Aspect texture et comparaison entre EBSD, DRX et neutrons - différences et complémentarité (Denis Solas, Université Paris-Sud, Orsay)
16h45 - 17h15 :
EBSD et 3D (Stefan Zaefferer, Max-Planck-Institut GmbH, Düsseldorf)
17h15 - 17h45 :
EBSD et applications in-situ (méca, chauffage, etc.) (Anne-Laure Helbert, Université Paris-Sud, Orsay) résumé
17h45 - 18h15 :
Un complément à l'EBSD: la technique ICCE - Comparaison ((Stefan Zaefferer, Max-Planck-Institut GmbH, Düsseldorf, qui remplace Thierry Auger, Ecole Centrale Paris)
Mardi 26 Novembre 2013
09h00 - 09h30 : Préparation des échantillons (Bénédicte Brugier, AREVA NP, Le Creusot) résumé
09h30 - 10h00 :
EBSD et bio-matériaux (Xavier Bourrat, BRGM, Orléans) résumé
10h00 - 10h30 :
Pause
10h30 - 11h00 :
Analyse des contraintes par EBSD (Patrick Villechaise, ENSMA Poitiers) résumé
11h00 - 11h30 :
EBSD sur lames minces (Fabrice Gaslain, Mines-Paristech, Evry) résumé
11h30 - 12h00 :
Couplage EBSD et essais mécaniques, ingénierie des joints de grains, aspects technologiques (Denis Boivin, Onera, Chatillon) résumé
12h00 - 13h30 :
Déjeuner libre
13h30 - 14h00 :
Couplage EBSD et EDS (Gilles Morvan, Labo. Hydrologie et Géochimie, Strasbourg) résumé
14h00 - 14h30 :
Couplage EBSD et Raman (Guillaume Wille - Abdeltif LAHFID, BRGM, Orléans)
14h30 - 15h00 :
La diffraction de Kossel en MEB (Raphaël Pesci remplacé par Denis Bouscaud, Arts et Métiers Paristech, Metz) résumé
15h00 - 15h30 :
Améliorer la résolution angulaire de l'EBSD : pourquoi? comment? (Claire Maurice, Ecole des Mines  St-Etienne) résumé
15h30 - 16h00 :
Table ronde 

 

Journées Pédagogiques des 6 et 7 décembre 2012 à Jussieu :

"Techniques de microanalyse élémentaire et autres caractérisation dans le MEB"


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Jeudi 6 décembre 2012

Les techniques de microanalyse élémentaire : spectrométries EDS et WDS

    
09h00 - 09h30 :

Accueil

09h30 - 10h15 :

Principe de l'émission X  (Philippe Jonnard, UPMC Paris) résumé

10h15 - 10h25 : Lancement du circuit d'inter-comparaison d'analyse EDS et WDS (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé
10h30 - 14h00 :
(caves Esclangon)
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.
14h00 - 14h30 : Assemblée Générale du GN-MEBA  
14h30 - 15h15 : Les détecteurs EDS : technologie, principe de fonctionnement, évolution  (Laurent Maniguet, CMTC Grenoble)
15h15 - 15h55 : Les spectromètres WDS - aspects technologiques (faisceau convergent, faisceau parallèle) (Guillaume Wille, BRGM Orléans - Florence Robaut, CMTC Grenoble)
15h55 - 16h15 Pause
16h15 - 16h45 Analyse EDS : traitement des spectres  (Christine Gendarme, IJL Nancy) résumé
16h45 - 17h30 Analyse WDS : traitement des spectres et analyse quantitative (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé
17h30 - 18h15 Source FEG en spectrométrie WDS : apports et limitations (Sandrine Mathieu, Univ. Nancy) résumé


Vendredi 7 décembre 2012

Les techniques de microanalyse élémentaire : spectrométries EDS et WDS (suite)

09h00 - 09h30 Analyses d’indices matériels par MEB/EDX au profit des enquêtes judiciaires ( Thierry Dodier, IRCGN Rosny /Bois) résumé
09h30 - 10h00 Analyse de couches minces par WDS, corrélation à l'analyse Auger  et SIMS (Frédéric Christien, Polytech'Nantes) résumé
10h00 - 10h30 Pause
10h30 - 11h00 Cartographies X : de la genèse aux tous derniers développements. A quoi peut-on s’attendre? (Fabrice Gaslain, Mines ParisTech' Evry) résumé

 

Autres techniques de caractérisation dans le MEB

11h00 - 11h30 Microfluorescence X dans le MEB : principe, apports, comparaison avec l'EDS (Mathias Procop, IFG Institute Berlin) résumé
11h30 - 12h00 Cathodoluminescence dans le MEB: principe, appareillage, imagerie et application  (Pierre-Marie Coulon, CRHEA Sophia-Antipolis) résumé
12h00 - 14h00 Déjeuner libre
14h00 - 14h30 Tomographie X dans le MEB (Pascal Gounet, ST Ericsson Grenoble) résumé
14h30 - 15h00 Couplage MEB-Raman : principe, technologie, applications (Guillaume Wille, BRGM Orléans) résumé
15h00 - 15h30 EBSD : principes généraux, courant et vitesse d'acquisition (François Brisset, Univ. Paris-sud Orsay) résumé
15h30 - 16h00 Table ronde sur les exposés et questions diverses

 

Journées Pédagogiques des 1er et 2 décembre 2011 (Jussieu)
" Imagerie et analyses : de la 2D à la 3D / Le MEB-FIB* :  principe et applications " (*faisceau d'ions focalisé)
   
Jeudi 1er Décembre 2011
    
09h00 - 09h30 :

Accueil

09h30 - 10h00 :

Reconstruction de surface 3D par stéréoscopie MEB : principes, algorithmes et résultats
Guy Le Besnerais, ONERA/DTIM (résumé)

10h00 - 10h30 : Imagerie Confocale Raman : Principe, instrumentation et applications
Maxime Tchaya Njantio, WITec GmbH (résumé)
10h30 - 14h00 :
(caves Esclangon)
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.
14h00 - 14h30 : Assemblée Générale du GN-MEBA  
14h30 - 15h00 : Les 50 ans du Groupement : Si l'histoire du GN-MEBA m'était contée par Jacky Ruste
15h00 - 15h15 : Introduction à la thématique MEB-FIB.
Florence Robaut, CMTC Grenoble-INP
15h15 - 15h45 Pause
15h45 - 16h15 FIB : Canon et Colonne ioniques.
Frédéric Charlot, CMTC Grenoble-INP (résumé)
16h15 - 17h15 Interactions ions-matière mises en jeu dans l'abrasion et le dépôt par voie ionique. Influence des conditions opératoires sur l'abrasion en faisceau d'ions.
Jean-Claude Ménard, Zeiss France (résumé)


Vendredi 2 Décembre 2011


09h00 - 09h30 Apport des accessoires du MEB-FIB à travers différentes applications.
Eric Gautier, CNRS Spintec Grenoble
09h30 - 10h00 Mécanismes et stratégies de dépôts assistés par FIB.
Guillaume Audoit, CEA Leti, Grenoble (résumé)
10h00 - 10h30 Préparation de lames TEM et autres applications liées au domaine semi-conducteur et aux systèmes microélectromécaniques.
David Troadec, IEMN Lille (résumé)
10h30 - 11h00 Pause
11h00 - 11h30 Applications diverses 3D.
Marco Cantoni, EPFL Lausanne (résumé)
11h30 - 12h00 Microanalyse EDS en 3D par MEB-FIB : perspectives et limitations.
Pierre Burdet, EPFL Lausanne (résumé)
12h00 - 12h30 EBSD 3D par MEB-FIB.
Dominique Loisnard, Lucie Saintoyant, EDF Renardières, Moret sur Loing
12h30 - 12h50 Procédure de correction de dérive lors de séries 3D en FIB.
Bertrand Van de Moortèle, ENS Lyon (résumé)
12h50 - 14h30 Déjeuner libre
14h30 - 15h00 Applications MEB-FIB en minéralogie et biologie.
Imène Estève, IMPMC Univ. Pierre et Marie Curie, Paris
15h00 - 15h30 Apport du MEB-FIB à l'étude des matériaux du nucléaire.
Laurent Legras, EDF Renardières, Moret sur Loing
15h30 - 16h00
Préparation de pointes pour la sonde atomique tomographique par FIB.
Emmanuel Cadel, Univ. Rouen (résumé)


Réunion des 2 et 3 décembre 2010 (Site des CORDELIERS):" Colonnes électroniques et ioniques - Détecteurs spécifiques associés : Etat de l'art présenté par les constructeurs "
   
Jeudi 2 Décembre 2010
    
09h00 - 09h30 :

Accueil

09h30 - 10h30 :

Histoire de la microscopie électronique à balayage,
Jacky RUSTE (GN-MEBA), François GRILLON (ENSMP) (résumé)

10h30 - 13h45 :
    (à JUSSIEU)
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.
14h00 - 14h30 : Assemblée Générale du GN-MEBA
14h30 - 15h00 : Microscopes conventionnels EVO, derniers développements,
Laurent VET (Carl Zeiss) (résumé)
15h00 - 15h30 Microsonde Cameca : la colonne électronique,
Michel OUTREQUIN (Cameca) (résumé)
15h30 - 16h00 Microsonde de Castaing, pourquoi nous en avons toujours besoin, spécificités par rapport aux EDS - Les nouvelles possibilités de la microsonde à effet de champ,
Jacky LARNOULD (Jeol) (résumé)
16h00 - 16h20 Pause
16h20 - 16h50 Nouveaux développements en microscopie électronique à balayage haute résolution à très basses énergies,
Thierry GRENUT (Elexience) (résumé)
16h50 - 17h20 Technologies pour la microscopie électronique à balayage de résolution sub-nanométrique à haute et basse tension,
Laurent ROUSSEL (FEI) (résumé)


Vendredi 3 Décembre 2010


09h00 - 09h30 Voir l'inaccessible de manière naturelle : Colonne FEG et détecteurs - TESCAN Mira3, InBeam, LVSTD,
David BARRESI (Eloïse-Sarl) (résumé)
09h30 - 10h00 Les évolutions de la colonne GEMINI,
Smaïl CHALAL (Carl Zeiss) (résumé)
10h00 - 10h30 Microscopie électronique à balayage en transmission : contraintes et solutions pour l'imagerie en très haute résolution,
Thierry GRENUT (Elexience) (résumé)
10h30 - 10h50 Pause
10h50 - 11h20 Technologies de l'ESEM, ses détecteurs et dernières nouveautés,
Michel TRENTIN (FEI) (résumé)
11h20 - 11h50 Le ClairScope™ : MEB Atmosphérique, un outil de microscopie corrélative photonique-électronique,
Franck CHARLES (Jeol) (résumé)
11h50 - 12h20 FIB FEG / Xbeam, présentation des colonnes et des détecteurs.
Jean-Claude MENARD (Carl Zeiss) (résumé)
12h20 - 14h20 Déjeuner libre
14h20 - 14h50 Utilisation d'un FIB-SEM pour la préparation très rapide d'échantillons pour l'observation ultra haute résolution ou pour l'imagerie 3D,
Laurent LOOS (Elexience) (résumé)
14h50 - 15h20 Technologie et dernières avancées liées aux systèmes à faisceau d'ions focalisés FEI,
Laurent ROUSSEL (FEI) (résumé)
15h20 - 15h50 TESCAN - Innovations des éléments de colonnes SEM - FIB,
David BARRESI (Eloïse-Sarl) (résumé) -ANNULE-
15h50 - 16h20 Orion Helium-ion-microscope (HIM) : Perspectives en Microscopie à Balayage,
Jean-Claude MENARD (Carl Zeiss) (résumé)


    

Réunion des 3 et 4 décembre 2009 à Paris 06 (site des Cordeliers) : "Microanalyse X quantitative :
quelle fiabilité pour quelle analyse ?"
   
Jeudi 3 Décembre 2009
    
09h00 - 09h30 : Accueil
09h30 - 10h30 : Les principes de l'analyse quantitative - Comment effectuer une bonne analyse ? Rappels sur les méthodes de quantification, Jacky Ruste, GN-MEBA (résumé)
10h30 - 13h45 :
    (à JUSSIEU)

Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.

14h00 - 14h30 :

Assemblée Générale du GN-MEBA et Résultats de l'Enquête sur les MEB

14h30 - 15h15 : Les sources d'erreurs et d'incertitudes, Claude Merlet, Univ Montpellier (résumé)
15h15 - 15h45 : Les sources d'erreurs sur les paramètres fondamentaux, Marie-Christine Lepy, CEA Saclay (résumé)
15h45 - 16h05 : Exemples d'erreurs liés aux coefficients d'absorption, Lahcen. Khouchaf, Ecole des Mines de Douai (résumé)
16h05 - 16h30 : Pause
16h30 - 17h00 : EDS : fiabilité de l'analyse sans témoin, Denis Boivin, ONERA Chatillon (résumé)
17h00 - 17h30 : Microanalyse X sous pression contrôlée : possibilités et limites, Lahcen. Khouchaf, Ecole des Mines de Douai, Christian Mathieu, Univ. D'Artois, Monique Repoux, ENSMP Sophia Antipolis (résumé)


Vendredi 4 Décembre 2009


09h00 - 09h30 : Analyse des rayonnements de faible énergie, Philippe Jonnard, Univ. Pierre et Marie Curie, CNRS (résumé)
09h30 - 10h00 : Résolution spatiale de la microanalyse: influence de la tension d'accélération, du rayonnement X et de l'absorption, Jacky Ruste, GN-MEBA (résumé)
10h00 - 10h20 : Sources d'erreurs liées à l'échantillon, François Brisset, Univ. Paris Sud 11, CNRS (résumé)
10h20 - 10h35 : Pause
10h35 - 11h00 : Cas des échantillons stratifiés : méthode et limites, Claude Merlet, Univ Montpellier (résumé)
11h00 - 11h45 : Microanalyse X sur échantillons isolants, Jacques Cazaux, Univ. Reims (résumé)
11h45 - 12h15 : Traitement statistique des données, Jean-Louis Longuet, CEA Le Ripault (résumé)
12h15 - 14h00 : Déjeuner libre
14h00 - 14h30 : Contrôle et calibration en EDS et WDS, Christine Gendarme, Institut Jean Lamour, Nancy (résumé)
14h30 - 15h00 : Les normes en analyse quantitative, Florence Robaut, CMTC, Grenoble
15h00 - 16h30 : Présentation des résultats sur les échantillons tests, Jean-Louis Longuet, CEA Le Ripault, et Jacky Ruste, GN MEBA (résumé)
suivie d'une TABLE RONDE

 


  

 


    

Réunion des 4 et 5 décembre 2008 à Paris 06 (site des Cordeliers) : "Expertise de la rupture et autres défaillances"

   
Jeudi 4 Décembre 2008
    
09h00 - 09h30 : Accueil
09h30 - 10h00 : Exposé introductif : sollicitation mécanique, mécanique de la rupture, Jacky Ruste, GN-MEBA (résumé)
10h00 - 10h30 :
L'analyse de défaillances dans le ferroviaire, Philippe Feraud, Agence d'essai ferroviaire SNCF
10h30 - 13h45 :
    (à JUSSIEU)

Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.

14h00 - 14h30 :

Assemblée Générale du GN-MEBA

14h30 - 15h00 : Expertise d'aubes de turbines à combustion, Frédéric Delabrouille, Laurent Legras, EDF R&D
15h00 - 15h30 : La datation de fissures sur éléments de structure d'avion, apport du MEB-FEG, Frédéric Masgrangeas, Ludovic Fehrenbach, Laboratoire Pessac, Bureau VERITAS
15h30 - 16h00 :

Pause
16h00 - 16h30 : Propriétés d'endommagement de films de nitrure de titane et d'aluminium étudiées à l'échelle nanométrique, Marie-Hélène Tuilier, Lab. MMPF, Univ. de Haute Alsace (résumé)
16h30 - 17h00 : Identification des mécanismes de rupture sur des soudures par point de friction malaxage, Sandrine Bozzi, ICMMO/LPCES, Université de Paris Sud (résumé)
17h00 - 17h30 : Défaillance des connecteurs automobiles, Florence Lestrat, Renault Guyancourt


Vendredi 5 Décembre 2008


09h00 - 09h30 : Dégradation des matériaux du bâtiment : fissuration, perméabilité, microstructure, Sylvine Guedon, LCPC- Section GMRGE/MSRG (résumé)
09h30 - 10h00 : Etude par microscopie électronique à balayage du comportement mécanique du cheveu sous conditions environnementales, Philippe Hallegot, l'Oreal Recherche (résumé)
10h00 - 10h30 : Évaluation tri-dimensionnelle des micro-fissures dans l’os trabéculaire humain par micro-CT synchrotron, Aymeric Larrue, CREATIS/ESRF (résumé)
10h30 - 11h00 : Pause
11h00 - 11h30 : Défaillance en archéologie : MEB et microanalyse X, outils diagnostiques et exploratoires, perspectives en ostéo-archéologie, William Devriendt, Direction de l'Archéologie de la Communauté d'Agglomération de Douaisis (résumé)
11h30 - 12h00 : Rupture dans les matériaux composites, Anthony Bunsell, CDM - MinesParisTech, Evry (résumé)
12h00 - 14h00 : Déjeuner libre
14h00 - 14h30 : L'application de l'analyse fractographique en expertise de pièces composites, Benoît Poitou, CETIM Nantes (résumé)
14h30 - 15h00 : Etude structurale des phases siliceuses: diagnostic de la défaillance du béton, Amine Hamoudi, Ecole des Mines de Douai (résumé)
15h00 - 15h30 : Rôle de la rugosité interfaciale dans l'endommagement des barrières thermiques (revêtement protecteur des superalliages utilisés dans l'aéronautique), Martine Poulain, ONERA-DMSM (résumé)

 


  

 


    

Réunion des 29 et 30 novembre 2007 à Paris 06 (site des Cordeliers) : "Préparation des échantillons pour les observations en MEB et les analyses"
   
Jeudi 29 Novembre 2007
    
08h45 - 09h00 :
Accueil
09h00 - 09h30 : Introduction (Jacky Ruste)
09h30 - 10h00 : Découpe des matériaux durs (Rémi Chiron - LPMTM Villetaneuse)
10h00 - 10h30 :
Techniques d'Enrobage (Sonia Achard - Technocentre Renault)
10h30 - 13h45 :
    (à JUSSIEU)

Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs.

14h00 - 14h30 :

Assemblée Générale du GN-MEBA

14h30 - 15h10 : Polissage mécanique (François Grillon - ENSMP)
15h10 - 15h50 : Décapage de surface et attaque métallographique (Florence Le Strat - Technocentre Renault)
15h50 - 16h05 :

Pause
16h05 - 16h50 : Nettoyage et décontamination (Frédéric Charlot - CMTC, St Martin d'Hères)
16h50 - 17h30 : Polissage ionique (Marco Cantoni - EPFL / CIME)


Vendredi 30 Novembre 2007


09h00 - 09h50 : Préparation d'échantillons minces (Luc Beaunier - Université Paris VI) -appel à contribution-
09h50 - 10h10 : Dispositifs de Fixation des échantillons (Jacky Ruste)
10h10 - 10h40 : Problématique du Stockage (Christian Mathieu - Université d'Artois)
10h40 - 11h00 : Pause
11h00 - 11h40 : Métallisation des échantillons (François Brisset - Université Paris XI)
11h40 - 12h20 : Techniques de Marquage de surface (Amanda Martinez-Gil - LPL Villetaneuse)
12h20 - 14h30 : Déjeuner libre
14h30 - 15h15 : Préparation des matériaux mous (Alain Jadin - CERTECH)
15h15 - 16h45 : Artéfacts et autres bizarreries : Table ronde

 



  

 

Réunion des 30 novembre et 1er décembre 2006 à Paris - Jussieu
"Techniques associées à la Microscopie Electronique à Balayage
et Applications Biologiques"
  programme et résumés
Textes ou présentations des conférenciers à la disposition des membres cotisants


Jeudi 30 novembre 2006
 : Techniques associées à la Microscopie Electronique à Balayage


08h45 - 09h00 : Accueil
09h00 - 09h40 : Micro-XRF excitation in an SEM - Dr Michael Haschke (IfG - Institute for Scientific Instruments GmbH, Berlin, Germany)
09h40 - 10h15 : Essais in-situ en MEB - Eva Héripré (ENSMP - Evry)
10h15 - 10h45 :

Caractérisation automatique des inclusions par un système MEB-EDS piloté par analyse d'images - Eric Hénault (Ascométal)

10h45 - 10h50 : Annonce concernant la réunion de décembre 2007 - Luc Beaunier
10h50 - 13h45 :

Rencontres techniques, pause-café et lunch offerts par le GN-MEBA et les constructeurs aux adhérents du groupement

14h00 - 15h00 :

Assemblée Générale du GN-MEBA

15h00 - 15h10 : Intervention de Hélène Maury
15h10 - 15h15 : Remise du prix MAS " Castaing Award " à Mlle Hélène Maury par R. Gauvin
15h15 - 16h00 : Optique ionique dans un nanoSIMS - Tom Wirtz (LAM, CRP G. Lippmannn)
16h00 - 16h30 : Pause
16h30 - 17h30 : La microlithographie, le FIB et ses applications - Thierry Fournier (CNRS Grenoble)


Vendredi 1er décembre 2006 : Applications Biologiques


09h00 - 09h35 : Apports du FIB pour des applications en biologie végétale - Didier Le Thiec (INRA, Nancy)
09h35 - 10h10 : NanoSIMS et biologie - Jean-Luc Guerquin-Kern (Institut Curie, Orsay)
10h10 - 10h45 : Nouvelles applications biologiques du TOF-SIMS avec les sources d'ions polyatomiques - Alain Brunelle (ICSN, CNRS-Gif sur Yvette)
10h45 - 11h15 : Pause
11h15 - 11h50 : L'organisation d'un centre commun de Microscopie. Mise en place de la démarche qualité - Brigitte Gaillard-Martinie (INRA, Clermont-Ferrand)
11h50 - 13h50 : Déjeuner libre
13h50 - 14h25 : Observation des effets antibactériens d'huiles essentielles (HE) chémotypées en microscopie électronique à balayage - Laurence Mayaud (CHU St-Etienne)
14h25 - 15h00 : Tomographie électronique: principes et applications - Cedric Messaoudi (Institut Curie, Orsay)
15h00 - 15h35 : Pause
15h35 - 16h10 : Corrélation entre la microscopie à fluorescence et la cryo-tomographie électronique en conditions cryogéniques: études structurelles et morphologiques de cellules intactes - Anna Sartori (Max Planck Institut)
16h10 - 16h45 : Microscopie multiphotonique: principes et applications - Anne Colonna (L'Oréal Recherche)
 

 



  


Réunion des 8 et 9 décembre 2005 (Jussieu) :
"La microanalyse X par sonde électronique"
programme et résumés
Les textes ou présentations des conférenciers sont sur le site
dans la page reservée aux membres cotisants du GN-MEBA
Jeudi 8 Décembre 05:
08h45 - 09h00 : Accueil
09h00 - 09h45 : Production et caractéristiques du rayonnement X
Christiane Bonnelle, (Université P. et M. Curie, Paris Jussieu)
09h45 - 10h30 : Statistique en microanalyse
Jacky Ruste (EDF, Les Renardières)
10h30 - 13h45 :

Rencontres techniques et Buffet offert par les constructeurs aux adhérents GN-MEBA

14h00 - 15h00 :

Assemblée Générale du GN-MEBA

15h00 - 15h45 : Les spectromètres WDS - aspects technologiques
Florence Robaut (CMTC-INP Grenoble)
15h45 - 16h15 : Pause
16h15 - 16h45 : Le traitement des spectres WDS
Claude Merlet (Université de Montpellier)
16h45 - 17h15 : Miroirs multicouches gravés pour l'analyse spectrométrique X des éléments légers
Jean-Michel André (Université P. et M. Curie, Paris Jussieu)

 

Vendredi 9 Décembre 05:

09h00 - 10h00 : Les spectromètres EDS et les détecteurs SDD - aspects technologiques
Laurent Maniguet (CMTC-INP Grenoble)
10h00 - 10h30 : Le traitement des spectres EDS
Denis Boivin (ONERA, Châtillon)
10h30 - 10h45 : Pause
10h45 - 12h00 : Les Méthodes de quantification, application à des micro-volumes homogènes et stratifiés
Jean-Louis Pouchou (ONERA, Châtillon)
12h00 - 13h45 : Pause déjeuner
13h45 - 14h15 : La microscopie électronique à pression contrôlée et l'analyse EDS
Lahcen Khouchaf (Ecole Nationale Supérieure des Mines de Douai, Douai)
14h15 - 14h45 : Les Images X (numériques, quantitatives, …)
Annie Malchere (INSA, Lyon)
14h45 - 15h00 : Pause
15h00 - 15h30 : L'analyse combinée EDS-WDS
Jean-François Thiot (SAMx)
15h30 - 16h00 : Détecteurs cryogéniques de type bolomètre pour la spectrométrie X, applications dans la recherche et l'industrie
Elvire Leblanc (CEA Saclay)
16h00 - 16h30 : Analyse des résultats sur les échantillons tests et
Discussion - Bilan

Jacky Ruste (EDF, Les Renardières)

 



Réunion pédagogique des 2 et 3 Décembre 2004 (Jussieu , Paris) :
" Les électrons dans le MEB : Production, Transport, Interactions et Détection "
Télécharger les Résumés au format PDF 


Jeudi 2 décembre 2004

Thème " production "


- L'émission des électrons par le processus thermoélectronique et l'effet tunnel: les cathodes conventionnelles - B. Vu Thien (Université Claude Bernard, Lyon)

- Les nouvelles cathodes froides en couches ultra-minces et nanocomposés de carbone - B. Vu Thien (Université Claude Bernard, Lyon)

Thème " transport "


- L'optique électronique : Principes de base - J. Ruste (EDF, Moret-sur-Loing)

- La colonne électronique du MEB - P. Morin (Université Claude Bernard, Lyon)

- Simulation numérique des lentilles électromagnétiques - D. Bultreys (FEI, Belgique)


Vendredi 3 décembre 2004

Thème " interactions "


- Interactions élastique et inélastique des électrons avec la matière. Analyse de surface - B. Gruzza (Université Blaise Pascal, Clermont-Ferrand)

- Collisions inélastiques : émission de photons et d'électrons secondaires - C. Bonnelle (Université Pierre et Marie Curie, Paris)

- Simulation de trajectoires électroniques par méthode de Monte-Carlo : approches diverses, mise en oeuvre et applications - J.-L. Pouchou (ONERA, Chatillon)

- L'interaction gaz -électron dans les MEB à haute pression - R. Belkhorissat, C. Mathieu (Université d'Artois, Lens)


Thème " détection "


- Les détecteurs d'électrons dans le MEB - L. Maniguet, F. Charlot, F. Robaut, F. Roussel-Dherbey (CMTC-INPG, Saint-Martin-d'Hères) F. Grillon (ENSMP, Evry)

- La détection des électrons dans les MEB à haute pression - C. Mathieu (Université d'Artois, Lens)


 

 



 

Réunion pédagogique des 4 et 5 Décembre 2003 (Jussieu , Paris) :
" ANALYSE DE SURFACE DES MATERIAUX "
Télécharger les Résumés au format PDF 



J
eudi 4 décembre 2003

- Introduction aux techniques de caractérisation de surface des matériaux solides, Tran Minh-Duc (Biophy, Marseille)

- Pratique et applications de la microscopie à force atomique et à force magnétique (AFM/MFM), Marc Verdier (LTPCM, Grenoble)

- Caractérisation physico-chimique des surfaces par AFM, Gérard Lévèque (LAIN, Montpellier)

- Microscopies STM / AFM in situ en électrochimie, Philippe Allongue (Polytechnique, Palaiseau)


- L’analyse de surface par spectroscopie d’électrons pour analyse chimique (ESCA) : l’état de l’art en terme de performance, limitations et applications industrielles, Hugh Dunlop (Péchiney, Voreppe)

- Photoémission et absorption X (XPS) : application aux études de réactivité de surface, François Rochet (LCPMR, Paris VI)

- HREELS, spectroscopie des propriétés vibrationnelles et électroniques de surface : principe et application à l’étude de l’interaction de l’hydrogène avec le graphite, Jean-Marc Layet (Université St Jérôme, Marseille)

- La technique de spectrométrie de particules nucléaires rétrodiffusées (Rutherford Backscattering Spectrometry) au service de la science des matériaux, Thierry Sauvage (CERI, Orléans)

Vendredi 5 décembre 2003

- Utilisation d’électrons de basse énergie pour l’analyse de la surface des métaux en microscopie électronique à balayage à effet de champ et en microanalyse X, Raynald Gauvin (Université Mac Gill, Montréal, Canada)

- Application de l’émission X induite par électrons (EXES) aux zones superficielles, Philippe Jonnard (LCPMR, Paris VI)

- Structure et morphologie de surfaces et d’interfaces par diffraction et diffusion aux petits angles des rayons X en incidence rasante (GIXD), Gilles Renaud (CEA, Grenoble)

- Spectroscopie vibrationnelle d’ interfaces utilisant les sources synchrotron et laser, Paul Dumas, Abderrahmane Tadjeddine (Lure, Orsay)

- Caractérisation rapide des revêtements par spectrométrie à décharge luminescente (SDL), Raymond Meilland (IRSID Maizières-les-Metz)

- Exemples de caractérisation par microréflectométrie optique, Guy Rémond (GN-MEBA, Orléans)

- Principe de la spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS) statique et dynamique, Monique Repoux (ENSMP, Sophia Antipolis)

- Utilisation de la SIMS en sciences du vivant (Multi-isotope Imaging Mass Spectrometry), Claude Lechène (Harvard Medical School and Brigham & Women’s Hospital, USA)

- Profils SIMS et résolution en profondeur en microélectronique, Philippe Holliger (LETI, Grenoble)

- Comparaison de différentes méthodes de mesure d’épaisseur de couches minces de Sn02 sur verre (par EPMA, réflectométrie X, SIMS ….), Patrice Lehuédé St-Gobain, Aubervilliers)

- Table ronde sur les techniques d’analyse de surface animée par Christiane Bonnelle (LCMPR, Paris VI
)

 



 

Réunion pédagogique des 5 et 6 Décembre 2002 (Jussieu , Paris) :
" L'ANALYSE EBSD "
a donné lieu à la publication d'un ouvrage édité en 2004 chez EDP Sciences :


Jeudi 5 décembre 2002

- Introduction à l'analyse EBSD: Principes Généraux et mise en oeuvre de la technique dans un MEB (JL Pouchou - Onera)

- Rappels de cristallographie et notions de bases sur les textures (T. Baudin - Université d'Orsay)

- Analyse cristallographique locale ou cartographie d'orientation grand champ: deux utilisations tres différentes de la technique EBSD dans un MEB (JL Pouchou - Onera)

- Etude de la microstructure d'échantillons d'hexaferrite de strontium pour leurs propriétés magnétiques (F. Robaut - CMTC Grenoble)

- Applications de l'analyse EBSD en métallurgie (PH Jouneau - Insa Lyon)

-Utilisation de l'érosion ionique pour la préparation d'échantillons en EBSD (JL Pouchou - Onera)

Vendredi 6 décembre2002

- L'EBSD: un outil pour la micromécanique des matériaux (J Crépin - Ecole Polytechnique)

- Caractérisation cristallographique par EBSD de la microstructure et de la propagation des fissures par fatigue dans un acier austeno-ferritique biphasé (AF Gourgues, V Calonne- Ecole des Mines de Paris)

- Identification automatique de phase par utilisation combinée de l'EDS et de l'ZBSD à la fois dans les cas faciles et les cas difficiles (D Dingley - TexSem Labs, Utah)

- Caractérisation de la microstructure: quand faut-il utiliser le TEM? (S Zaefferer - MPI Dusseldorf)

- Apport de la technique EBSD à l'étude des mécanismes d'évolution microstructurale en déformation à chaud - Application aux alliages Inconel 718, Zircalloy 4 et aluminium 2024 (JP Thomas - Ecole des Mines de St Etienne)

- Apport de l'EBSD et des essais in-situ à l'étude du comportement thermomécanique des matériaux (R Chiron - Université de Villetaneuse)

- L'EBSD en Science de la Terre (A Tommasi - université de Montpellier)

- Technologie et performances comparées des caméras utilisées en EBSD (D Boivin - Onera et F Brisset - CNRS)

- Analyse EBSD haute résolution et texture (P Rolland)