Formations
Cacemi (Paris)
CMTC (Grenoble)
CNRS Formation
INSTN
Micro Icaunaise (J.Ruste)
dernière mise à jour le 15/02/2021

Conservatoire National des Arts et Métiers - 75003 PARIS
 Contact : mail : entreprises@cnam.fr
http://www.cnam-entreprises.fr

 

 

 

 

METHODES D'ETUDE ET D'ANALYSE PHYSICO-CHIMIQUE DES MATERIAUX

Caractérisation des matériaux
  • 1 - Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse X élémentaire (personnes débutantes)

  • 2 - Approfondissement en imagerie au microscope électronique à balayage et en microanalyse X

  • 3 - Pratique de l'analyse EBSD

  • 4 - Analyse d'images et microscopie quantitative

  • 5 - Pratique de la microanalyse élémentaire par spectrométrie X avec un détecteur à diode EDS associée au microscope électronique à balayage




CMTC - Consortium des Moyens Technologiques Communs
Formation continue de Grenoble INP

 http://cmtc.grenoble-inp.fr/formations/

INPG-CMTC



Lieu : Grenoble, domaine universitaire de Saint-Martin d'Hères

Stages spécialisés  :
  • Microscopie électronique à balayage et microanalyse X
  • Pratique de la spectrométrie à dispersion de longueur d'onde (WDS)
  • Microscopie électronique en transmission (MET)
  • Caractérisation des couches minces par rayons X (collaboration INSTN)





 

 

 

CNRS Formation

CNRS Formation
Contact : Tél. 01.69.82.44.55 
http://cnrsformation.cnrs.fr/

 

Parmi les stages proposés:

- MEB et Microanalyse EDS (institut Néel, Grenoble)

- WDS - microsonde de Castaing : initiation à la spectrométrie X en dispersion de longueurs d'ondes (Institut Néel, Grenoble)

- Microanalyse élémentaire des solides par sonde électronique (Paris)

- EBSD et diffraction des rayons X - Corrélation entre la texture cristalline et la microstructure des matériaux (Orsay - 91)

- Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux (Strasbourg - 67)

- Techniques de préparation des échantillons de matériaux massifs et divisés pour la microscopie électronique à transmission
(Saint Martin d'Hères - 38)

- Microscopie à balayage double faisceaux (FIB / SEM) : un instrument multiple (INSA Lyon, Villeurbanne - 69)

 

 

 
http://www-instn.cea.fr/

 

 

http://micro.icaunais.free.fr/

  contact : jacky.ruste@orange.fr
   

Stages de formation et de perfectionnement en Microscopie Électronique à Balayage et Microanalyses