formations

Formations

Cacemi (Paris)

CMTC (Grenoble)

CNRS Formation

INSTN

Micro Icaunaise (J.Ruste)

Université C.Bernard (Lyon)

dernière mise à jour le 22/12/2014

Stage CACE3I - Lieu : Conservatoire National des Arts et Métiers - 75003 PARIS
Contact : Tél. : 01.40.27.24.49, mail : cace3i@cnam.fr
http://cace3i.cnam.fr/

METHODES D'ETUDE ET D'ANALYSE PHYSICO-CHIMIQUE DES MATERIAUX

1 - Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse X élémentaire (personnes débutantes)
2 - Approfondissement en imagerie au microscope électronique à balayage et en microanalyse X
3 - Pratique de l'analyse EBSD
4 - Analyse d'images et microscopie quantitative
5 - Pratique de la microanalyse élémentaire par spectrométrie X avec un détecteur à diode EDS associée au microscope électronique à balayage

CMTC - Consortium des Moyens Technologiques Communs
Formation continue de Grenoble INP

http://cmtc.grenoble-inp.fr/formations/

Lieu : Grenoble, domaine universitaire de Saint-Martin d'Hères
Stages spécialisés :

Microscopie électronique à balayage et microanalyse X

Pratique de la spectrométrie à dispersion de longueur d'onde (WDS)

Microscopie électronique en transmission (MET)

Caractérisation des couches minces par rayons X (collaboration INSTN)

Centre Technologique des Microstructures (CTµ)
Formation continue de l'Université Claude Bernard Lyon1

http://focalserv.univ-lyon1.fr/sciences.htm

MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE

OBJECTIFS
Acquisition des connaissances théoriques et pratiques de la microscopie électronique à balayage (MEB)

MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE et MICRO-ANALYSE X en MEB

OBJECTIFS
Acquisition des connaissances théoriques et pratiques de la microscopie électronique à balayage (SEM) de la microscopie électronique pression contrôlée et de la microanalyse X en MEB classique.

CNRS Formation
Contact : Tél. 01.69.82.44.55
http://cnrsformation.cnrs-gif.fr/

Parmi les stages proposés:

- MEB et Microanalyse EDS (institut Néel, Grenoble)

- WDS - microsonde de Castaing : initiation à la spectrométrie X en dispersion de longueurs d'ondes (Institut Néel, Grenoble)

- Microanalyse élémentaire des solides par sonde électronique (Paris)

- EBSD et diffraction des rayons X - Corrélation entre la texture cristalline et la microstructure des matériaux (Orsay - 91)

- Microscopie électronique à balayage (MEB) en science des matériaux (Strasbourg - 67)

- Techniques de préparation des échantillons de matériaux massifs et divisés pour la microscopie électronique à transmission
(Saint Martin d'Hères - 38)

- Microscopie à balayage double faisceaux (FIB / SEM) : un instrument multiple (INSA Lyon, Villeurbanne - 69)

http://www-instn.cea.fr/

contact : jacky.ruste@free.fr

Stages de formation et de perfectionnement en Microscopie Électronique à Balayage et Microanalyses