P. Jonnard

Chargé de Recherche au CNRS.

 

Equipe IRIS - Optique X

(Instrument de Recherche sur les Interfaces et les Surfaces)

 

Objectif de l’équipe de recherche

- Etude de la distribution électronique des éléments présents dans des matériaux massifs et dans des zones superficielles ou interfaciales ; en particulier étude des interactions chimiques à des interfaces enterrées métal/céramique.

- Etude par faisceau d’électrons des états de défaut et des effets de charge dans les céramiques.

- Modélisation de la production du rayonnement X caractéristique par faisceau d’électrons de basse énergie.

- Recherche de milieux amplificateurs du rayonnement X.

 

Méthodes et techniques

Spectroscopie d’émission X induite par électrons.

Cathodoluminescence.

Spectroscopie de photoélectrons.

Préparation de films minces in situ par évaporation thermique.

Préparation de films minces par pulvérisation magnétron.


Prinicpaux moyens de l’équipe

 

 

1) IRIS : Instrument de Recherche sur les Interfaces et les Surfaces :

- une chambre de préparation UHV in situ.

- une chambre d’analyse UHV : faisceau d’électrons 0-10 keV ; porte-échantillon 50-300 K.

- un spectromètre X haute résolution à cristal courbé de type Johann : photons 150-5000 eV.

- un spectromètre à réseau : photons 150-900 nm.

 

2) Spectromètre X à réseau tangent

- chambre d’analyse : faisceau d’électrons 1-5 keV.

- spectromètre X haute résolution de type Schwob Frankel : photons 50-450 eV.