Groupe Surface et Tribologie (SET)

Centre de Mise en Forme des Matériaux (CEMEF)
http://www.cemef.mines-paristech.fr/

MINES PARIS / PARISTECH
Unité Mixte de Recherche UMR 7635 du CNRS
BP 207, 06 904 Sophia-Antipolis Cedex



Monique REPOUX
retraitée

Ingénieur de Recherche au CNRS
Chef de Groupe Adjoint SET
Analyste au CRAM 06
(Centre Régional d’Analyse des Matériaux)

Appareillages au laboratoire

  • Microscope Electronique à Balayage environnemental Philips ESEM XL30 LaB6 (1999) équipé de :
    détecteur solide BSE
    microanalyse X à sélection en énergie Oxford INCA, détecteur Si, éléments légers (1999)
    logiciel automatisation platine/acquisitions INCA (2005)
    logiciel StrataGem - SamX (2002)
    EBSD TSL (2002)
    platine refroidie par effet Peltier Philips (2001)
    platine chauffante "maison" (1000°)

  • Microscope Electronique à Balayage Jeol 35CF (1982) équipé de 
    microanalyse X à sélection en énergie Tracor-Noran Série II, détecteur Si, fenêtre Be (1987)
    logiciel Semafore pour enregistrement d’images numériques

  • Pulvérisateur Jeol, pour dépôts Au et Au-Pd

  • Evaporateur Edwards (carbone)

  • Analyseur d'images (Visilog 5.3)

  • Spectromètre de masse à temps de vol TOF-SIMS, Physical Electronics TRIFT II (1997)

  • XPS Riber MAC II (1987)
  • AFM Agilent 5500 (Scientec) et nanoindentation Triboscope Hysitron (Elexience) (2007)

Domaines de recherche du groupe SET

  • Réactivité de surface (analyse des surfaces, chimisorption, greffage de molécules sur surfaces d ’oxydes ou de polymères, adhésion métal-polymère)
  • Frottement, lubrification, usure en mise en forme des métaux (laminage à froid, emboutissage, forgeage à chaud)
  • Matériaux multi-couches, revêtements de surface et frottement (propriétés mécaniques des revêtements très fins, indentation, rayure, déformation des bi-matériaux)

Domaines personnels

  • Analyse de surface
  • Microscopie électronique à balayage
  • Microanalyse X à sélection en énergie
  • Spectrométrie de masse d’ions secondaires, régime statique (TOF-SIMS)
  • Spectrométrie d’électrons (XPS, Auger)
  • Acier galvanisé