Les sources d'erreurs sur les paramètres fondamentaux

Marie-Christine Lepy,
CEA Saclay

Les "paramètres fondamentaux" sont les données atomiques qui sont utilisées pour quantifier un résultat obtenu par analyse X (émission induite par particule -PIXE- ou fluorescence X). Ils sont caractéristiques de la composition des matériaux : ce sont les énergies de liaison des différentes couches et sous-couches, les énergies et intensités relatives des émissions X, les sections efficaces d'interaction, les rendements de fluorescence, etc.

Généralement, les données utilisées sont basées sur des tables dans lesquelles les rares valeurs expérimentales sont anciennes (40 à 50 ans), et ce d'autant plus que l'énergie est faible; de plus, les incertitudes associées sont rarement quantifiées et sont de l'ordre de 10 à 20 %.

Aujourd'hui, le développement des nouvelles techniques (en particulier l'utilisation du rayonnement synchrotron) et l'amélioration des performances des détecteurs devraient permettre des mesures plus précises de ces paramètres et ainsi conduire à l'amélioration des résultats quantitatifs.