mise
à jour : 30/04/2024
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mise
à jour : 30/04/2024 |
2023 : Le MEB-FIB : état de l'art, principe et applications 2022 : Principe, apport et mise en oeuvre de l'imagerie au MEB 2021 : Etat de l'art en Spectrométrie EDS et WDS : Fondamentaux et développements 2020 : en raison de la crise sanitaire Covid-19 : Visio-conférences constructeurs 2019 : MEB, Analyse et techniques complémentaires présentées par les constructeurs 2018 : Préparation d’échantillons, évolution des techniques 2017 : L'image dans tous ses états, de l'acquisition au traitement 2016 : Caractérisation chimique en MEB et microsonde-Apport de la spectrométrie WDS 2015 : Le MEB, un micro-laboratoire 2014 : La basse énergie en MEB et les microanalyses 2013 : L'analyse EBSD – Evolutions et exemples d'application 2012 : Techniques de microanalyse élémentaire et autres caractérisation dans le MEB 2011 : Imagerie et analyses : de la 2D à la 3D / Le MEB-FIB* : principe et applications 2010 : Colonnes électroniques et ioniques - Détecteurs spécifiques associés : Etat de l'art présenté par les constructeurs 2009 : Microanalyse X quantitative : quelle fiabilité pour quelle analyse ? 2008 : Expertise de la rupture et autres défaillances 2007 : Préparation des échantillons pour les observations en MEB et les analyses 2006 : Techniques associées à la Microscopie Electronique à Balayage et Applications Biologiques 2005 : La microanalyse X par sonde électronique 2004 : Les électrons dans le MEB : Production, Transport, Interactions et Détection 2003 : Analyse de surface des matériaux 2002 : L'analyse EBSD |
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Lundi 4 décembre | |||
| 09h00 - | Accueil des participants | ||
| 09h30 - |
Présentation générale du MEB-FIB - Florence Robaut, SIMaP Grenoble INP (résumé) |
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| 09h45 - |
Description des différentes sources et colonnes ioniques - Frédéric Charlot, CMTC Grenoble INP (résumé) |
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| 10h30 - |
Pause |
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| 11h00 - |
Revue
historique du développement du FIB ; source d'ions à métal liquide
(LMIS) - Nicholas Blanchard, Institut Lumière Matière, Université
Claude Bernard Lyon 1 (résumé) |
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| 11h30 - |
Les matériaux préparés par FIB :
limitations, artefacts, autres "bizarreries" et quelques solutions -
Imène Estève, IMPMC, Sorbonne Université, Jussieu Paris (résumé) |
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| 12h00 - |
Déjeuner libre |
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| 13h30 - |
Assemblée Générale |
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| 14h00 - |
Principes physiques mis en jeu au FIB, influence des conditions opératoires - Emmanuel Cadel, GPM, Université de Rouen (résumé) |
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| 14h30 - |
FIB 3D : applications et défis
dans le domaine de la microélectronique, des énergies nouvelles et de
la biologie - Constantin Matei, LETI CEA Grenoble (résumé) |
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| * 15h00 - | Le MEB-FIB "cryo" : un véritable couteau suisse pour le biologiste - Benoit Gallet, IBS Grenoble (résumé) | ||
| 15h30 - |
Pause |
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| 16h00 - |
MEB FIB plasma pour l'analyse 3D de "grands" volumes (visioconférence) - Alexis Nicolay, CEMEF MINES Paris Sophia Antipolis (résumé) |
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| 16h30 - |
Fonctionnement
d'un laser femtoseconde installé sur le sas d'introduction d'un MEB FIB
- David Troadec, IEMN Université de Lille (résumé) |
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| 17h00 - |
Dépôts assistés par faisceaux
d'ions et d'électrons : mécanismes et aspects pratiques - Alexandra
Fraczkiewicz, LETI CEA Grenoble (résumé) |
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| 17h30 - |
Etapes d’usinage FIB d’un
semiconducteur nitrure III-V pour l’obtention de lames MET en section
transverse et en section plane - Marie-Pierre Chauvat, CIMAP Ensicaen (résumé) |
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| 18h00 - |
Fin des exposés du lundi |
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| Mardi 5 décembre | |||
| * 09h00 - | Tomographie Tribeam
(MEB-FIB-Laser) : un outil pour la reconstruction 3D de microstructures
- Henry Proudhon, Centre des Matériaux MINES Paris Evry (résumé) | ||
| 09h30 - |
Réalisation à l'aide du FIB de microéchantillons dans le combustible irradié - Thierry Blay, CEA Cadarache (résumé) |
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| 10h00 - |
Nucléarisation d’un MEB-FIB pour
l’expertise de composants issus de centrales nucléaires - Rémi Mercier, EDF CNPE Chinon (résumé) |
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| 10h30 - |
Exposition Constructeurs au Centre International de Congrès de Sorbonne Université (salle 102, Tour 44, 1er étage) Pause café et Buffet de midi offerts par l'ensemble des constructeurs et le GN-MEBA. |
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| 14h00 - |
Imagerie 3D par
tomographie MEB FIB - Développements récents MEB FIB SIMS 3D - Claudie
Josse et Teresa Hungria, Centre de Microcaractérisation Raimond
Castaing Toulouse (résumé) |
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| 14h30 - |
Essais micromécaniques dans un MEB-FIB - Eva Heripré, PIMM Arts et Métiers Paris (résumé) |
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| 15h00 - |
Le FIB et la sonde atomique
tomographique au service de la caractérisation des joints de grains
irradiés aux ions - Quentin Barrès, ONERA Châtillon (résumé) |
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| 15h30 - |
Traitement d'images MEB-FIB et segmentation IA - Sabrina Clusiau, McGill University, Montréal (résumé) |
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| 16h00 - |
Fin des Journées Pédagogiques |
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Jeudi 1er décembre 2022 | |||
| 09h00 - 09h30 - | Accueil des participants | ||
| 09h30 - 10h30 - | Interactions électrons-matière - Les différents détecteurs d'électrons, principes - Ahmed ADDAD et Alexandre FADEL (Univ. Lille) - résumé- | ||
| 10h30 - 14h00 - | Exposition
Constructeurs avec pause café
et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le
GN-MEBA et les constructeurs - salle 102, 1er étage tour 44 Présentation de l'ouvrage Macrocosmos par Stephan Borensztajn sur les insectes vus au MEB et colorés artistiquement, accompagnées par un texte de Claire Villemant. | ||
| 14h00 - 14h30 - | Assemblée Générale | ||
| 14h30 - 15h00 - | L'acquisition numérique de l'image MEB (divers aspects) - Nicolas HOREZAN, Quentin BARRES (ONERA) -résumé- | ||
| 15h00 - 15h30 - | Les dérives en imagerie MEB : origine et correction - Alain JADIN (CERTECH, Belgique) - résumé - | ||
| 15h30 - 16h00 - |
Imagerie en environnement gazeux, principe et exemples - Christian MATHIEU, Tayeb AMRIOU (UCCS Artois - Faculté J. Perrin - Lens) -résumé- | ||
| 16h00 - 16h30 - | Pause | ||
| 16h30 - 17h00 - | Pourquoi le MEB bas voltage peut-il compétitionner avec le MET ? - Raynald, GAUVIN (Univ. McGill, Quebec) -résumé- | ||
| 17h00 - 17h30 - | L'imagerie chimique : comment et pourquoi ? - Denis BOIVIN (ONERA) -résumé- | ||
| Vendredi 2 décembre 2022 | |||
| 09h00 - 09h30 - | Correction des défauts de
balayage, application pour la mécanique - Marc BONNET (LMPS, Ens Paris
Saclay - CentraleSupélec - CNRS) - résumé- | ||
| 09h30 - 10h00 - | Techniques de reconstruction
topographique à partir d'images MEB - Eva HERIPRE (PIMM, Arts et
Metiers Inst. of Techn., CNRS, Cnam, HESAM Univ. 75013 Paris) -résumé- | ||
| 10h00 - 10h30 - | Dépôts de produits cosmétiques : d'un film sec sur substrat modèle à une formule hydratée à la surface de la peau. - Grégoire NAUDIN (L'Oreal) -résumé- | ||
| 10h30 - 11h00 - | Pause | ||
| 11h00 - 11h30 - | Les plateformes d’ions focalisés pour une haute résolution spatiale en spectrométrie de masse - Jean-Nicolas AUDINOT (LIST - Luxembourg Institute of Sci. and Technol.) -résumé- | ||
| 11h30 - 12h00 - | Complémentarité des imageries MEB et MET - Frédéric FOSSARD (CNRS - LEM, Chatillon) -résumé- | ||
| 12h00 - 13h30 - | Déjeuner libre | ||
| 13h30 - 14h00 - | Couplage de l'imagerie EDS / WDS / cathodoluminescence spectrale : apports en minéralogie et analyse des éléments-trace (Guillaume WILLE - BRGM, Orléans, Ida DI CARLO - ISTO, Orléans) - résumé- | ||
| 14h00 - 14h30 - | Le signal EBSD abordé sous tous les angles - Fabrice GASLAIN (Mines Paris, Univ PSL,Ctre des Matériaux, Evry) -résumé- | ||
FIN des Journées Pédagogiques
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Jeudi 2 décembre 2021 | |||
| 09h00 - 09h30 - | Accueil des participants | ||
| 09h30 - 10h00 - | Principe de l'émission X et de la spectrométrie EDS. Traitement des spectres et analyse quantitative en EDS - Sébastien PAIRIS, CNRS – Institut Néel, Grenoble (résumé) | ||
| 10h00 - 10h30 - | Résultats des analyses X de l'échantillon test - Jacky RUSTE (résumé) | ||
| 10h30 - 14h00 - | Exposition
Constructeurs avec pause café
et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le
GN-MEBA et les constructeurs - salle 102, 1er étage tour 44 | ||
| 14h00 - 14h30 - | STEM-EDS sur échantillon mince et Microanalyse du Li - Raynald GAUVIN, Université McGill, Canada (résumé) | ||
| 14h30 - 15h00 - | Résolution latérale en microanalyse EDS/WDS - Mikael PERRUT - ONERA/SIAM, Chatillon (résumé) | ||
| 15h00 - 15h30 - | Analyse d'échantillons stratifiés - Florence ROBAUT, SIMaP, CMTC, Grenoble (résumé) | ||
| 15h30 - 16h00 - | Pause | ||
| 16h00 - 16h30 - | Contrôle de la qualité de synthèse d’un polymère par EDS - François ORANGE, CCMA, Université Côte d'Azur, Nice (résumé) | ||
| 16h30 - 17h00 - | Analyse EDS sur échantillon massif à mince par la méthode des zêta facteurs corrigée du φ(ρz) (code IZAC) - Eric ROBIN, CEA Grenoble (résumé) | ||
| 17h00 - 17h30 - | Analyse quantitative EDS : quelques biais liés à la correction d’absorption et l’émission délocalisée de RX par les électrons diffusés à grand angle. Un exemple : Si/TiN/HfO2/TiN - Philippe BUFFAT, EPFL, Lausanne (résumé) | ||
| Vendredi 3 décembre 2021 | |||
| 09h00 - 09h30 - | Exemple d’utilisation d’une
caméra CCD à sélection d’énergie (color camera) - Philippe JONNARD,
Laboratoire de Chimie Physique - Matière et Rayonnement, Sorbonne Université (résumé) | ||
| 09h30 - 10h00 - | Technologie WDS + SXES et développement des détecteurs à réseaux - Jean-Louis LONGUET, CEA Le Ripault | ||
| 10h00 - 10h30 - | Assemblée Générale du GN-MEBA | ||
| 10h30 - 11h00 - | Pause | ||
| 11h00 - 11h30 - | L'analyse EDS en mode VP - Christian MATHIEU, Université d'Artois (résumé) | ||
| 11h30 - 12h00 - | Analyses quantitatives comparées (fluorescence X, EDS, WDS) - Ida DI CARLO, ISTO, Orléans (résumé) | ||
| 12h00 - 13h30 - | Déjeuner libre | ||
| 13h30 - 14h15 - | EDS ou WDS ? Avec ou sans témoins ? Quelle méthode pour quel besoin en microanalyse ? - Guillaume WILLE, BRGM, Orléans (résumé) | ||
| 14h15 - 15h00 - | Sources d'erreur en analyse X (optimisation des conditions opératoires) - Denis BOIVIN, ONERA Chatillon (résumé) | ||
| 15h00 - 15h30 - |
Statistique, calcul d'erreur, de limite de détection, d'intervalle de confiance en analyse X - Emmanuel CADEL, Université de Rouen (résumé) | ||
FIN des Journées Pédagogiques
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 | Journées Pédagogiques des 3 et 4 décembre 2020 en visio-conférences "MEB, Analyse et techniques complémentaires présentées par les constructeurs" |
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Jeudi 3 décembre 2020 |
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| Horaire |
Société |
Titre |
Lien |
| 13h00 |
JEOL |
Une nouvelle gamme de microscopes électroniques à balayage (résumé) |
Gotowebinar |
| 14h00 |
TESCAN |
Apport
de la dernière génération des MEB-FIB plasma TESCAN sur la
caractérisation de vos matériaux à différentes échelles : exemple sur
un échantillon d’olivine (résumé) |
Gotowebinar |
| 15h00 |
GATAN |
Préparation ionique pour observations MEB & analyses EBSD (résumé) |
TEAMS |
| 16h00 |
OXFORD INST |
Combinaison ECCI et EBSD HR dans l’étude de grains de WC (résumé) |
TEAMS |
| 17h00 |
ZEISS |
Un nouveau membre dans la famille Gemini : Le Gemini 3 (résumé) |
TEAMS |
| 18h00 |
THERMO FISHER |
Results in a snap – overview of the newest SEM and DualBeam technologies (résumé & mot de passe) | Webex |
Vendredi 4 décembre 2020
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| Horaire |
Société |
Titre |
Lien |
| 13h00 |
SCIENTEC |
Nettoyeurs Plasma Tergeo et EM-KLEEN et le Polisseur ionique CP-8000 (résumé & infos connexion) |
ZOOM |
| 14h00 |
EDAX |
Solution EDAX pour toutes les cartographies EBSD : rapidité et sensibilité (résumé) |
TEAMS |
| 15h00 |
EDEN INST |
Essais mécanique et chauffant, in-situ (résumé) |
TEAMS |
| 16h00 |
MILEXIA |
Technique innovante de détection des électrons transmis dans le MEB - Polisseur ionique hybride (résumés) |
Gotowebinar |
| 17h00 | ORSAY PHYSICS | CHORD ou comment obtenir des cartes d’orientations cristalline à l’aide du contraste de canalisation des électrons ou des ions (résumé) | Gotowebinar |
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Journées Pédagogiques des 2 et 3 décembre 2019 à Jussieu : "MEB, Analyse et techniques complémentaires présentées par les constructeurs" |
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Les
conférences sont assurées par les constructeurs. Après une présentation
de leur gamme de produits, chaque constructeur détaille une technique
particulière, complémentaire de celles que.nous utilisons couramment.
Ces techniques sont comparées entre elles en présentant leurs avantages
et inconvénients.
Lundi 2 décembre - amphi 25 | |
| 09h00 - 09h30 - | Accueil des participants |
| 09h30 - 09h45 - | Présentation prochaine opération "Echantillon test" (Jacky Ruste) -présentation- |
| 09h45 - 10h10 - | Microscopie à rayons X, tomographie - ZEISS (Nicolas Gueninchault) -résumé- |
| 10h10 - 10h30 - | Dureté - BUEHLER (Geoffrey Chatelain/ Fabrice Coste Chareyre) |
| 10h30 - 14h00 - | Exposition Constructeurs avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h30 - | Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h30 - 14h50 - | Métalliseur - SCIENTEC (Didier Pellerin) |
| 14h50 - 15h10 - |
Microscope digital d'inspection - FRANCE SCIENTIFIQUE (Pierre Forestier) |
| 15h10 - 15h35 - | SXES low kV Xray - JEOL (Jean-Claude Ménard) |
| 15h35 - 16h00 - | Platine traction - platine chauffante - NEWTEC (Antoine Candeias) |
| 16h00 - 16h30 - | Pause |
| 16h30 - 16h55 - |
TOF-SIMS - TESCAN (David Barresi) |
| 16h55 - 17h20 - |
Raman in-situ dans le MEB - WITEC (Maxime Tchaya Njantio) |
| 17h20 - 17h30 - | Petits accessoires MEB - DELTA MICROSCOPIES (Samia Souaï) |
| 17h30 - 17h55 - | Orientation dans le MET - ELOISE (Stavros Nicolopoulos) |
| Mardi 3 décembre - amphi 15 | |
| 09h00 - 09h25 - | Nano-indenteur - EDEN INSTRUMENTS (Alexandre Delamoreanu) |
| 09h25 - 09h50 - | XPS - THERMO FISHER (Richard White) |
| 09h50 - 10h15 - |
Fluorescence X - SYNERGIE4 (Philippe Lasson) |
| 10h15 - 10h40 - |
Sonde atomique - CAMECA (Anna Bui) |
| 10h40 - 11h10 - | Pause |
| 11h10 - 11h35 - | AFM - OXFORD INSTRUMENTS (Julien Lopez) -résumé- |
| 11h35 - 12h00 - | Profilométrie - MILEXIA (Maxime Guérineau, Thierry Grenut) |
| 12h00 - 12h25 - | Couches minces - SAMX PLUS (Marc Lalande) |
| 12h25 - 14h15 - | Déjeuner libre |
| 14h15 - 14h40 - | Cathodoluminescence - GATAN (Daniel Monville) |
| 14h40 - 15h05 - | Glow Discharge avec détection OES ou TOF-MS - HORIBA (Agnès Tempez) |
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Journées Pédagogiques des 6 et 7 décembre 2018 à Jussieu : "Préparation d’échantillons, évolution des techniques de préparation" |
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Jeudi 6 décembre | |
| 09h00 - 09h30 - | Accueil des participants |
| 09h30 - 10h00 - | La manipulation et le stockage des échantillons. Christian MATHIEU, Université d'Artois (résumé) |
| 10h00 - 10h30 - | Découpe d'échantillons durs et massifs. Florence ROBAUT, SIMaP, CMTC, Grenoble INP (résumé) |
| 10h30 - 14h00 - | Exposition Constructeurs (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h45 - | Assemblée Générale du GN-MEBA Les 60 ans de la microsonde et autres anniversaires - Jacky RUSTE |
| 14h45 - 15h15 - | Applications des techniques de polissage mécanique au MEB et à la microanalyse. Guillaume WILLE, BRGM, Orléans (résumé) |
| 15h15 - 15h45 - | Enrobage à froid – Etude de la relaxation de contraintes et du retrait après polissage. Marie-Eline COUTURIER, SFC, Les Ulis (résumé) |
| 15h45 - 16h15 - |
"Plasma FIB" : principes et applications. Guillaume AUDOIT, CEA-Minatec, Grenoble (résumé) |
| 16h15 - 16h45 - | Pause |
| 16h45 - 17h15 - | La métallisation : but, mises en oeuvre et limitations. Fabrice GASLAIN, Mines ParisTech, Evry (résumé) |
| 17h15 - 18h15 - |
Préparations d'échantillons pour microscopie analytique de 1 à 30 keV. Raynald GAUVIN, McGill University, Montréal, Canada (résumé) |
| Vendredi 7 décembre | |
| 09h00 - 09h30 - | Le marquage de surface au service de la Corrélation d'Image Numérique. Alexandre TANGUY, LMS, Polytechnique, Palaiseau (résumé) |
| 09h30 - 10h00 - |
Préparation des polymères. Alain JADIN, CERTECH, Seneffe, Belgique (résumé) |
| 10h00 - 10h30 - | Préparation des poudres pour le MEB et la microanalyse. Guillaume WILLE, BRGM, Orléans (résumé) |
| 10h30 - 11h00 - | Pause |
| 11h00 - 11h30 - | Nouvelle approche d'acquisition des données de macle de la calcite sous EBSD. Camille PARLANGEAU, LMS, Polytechnique, Palaiseau (résumé) |
| 11h30 - 12h00 - | Microscopie électronique et granulométrie d'une matrice complexe. Philippe HALLEGOT et Stéphane AMBERT, L'Oreal R&I, Aulnay-sous-Bois (résumé) |
| 12h00 - 12h30 - | Préparation d'échantillons complexes et hydratés. Imène ESTEVE, UPMC, Paris (résumé) |
| 12h30 - 14h15 - | Déjeuner libre |
| 14h15 - 14h45 - | Méthodes conventionnelles de préparation d'échantillons en microscopie électronique pour la biologie. Alexis CANETTE, UPMC, Paris (résumé) |
| 14h45 - 15h15 - | Cryométhodes en microscopie électronique pour la biologie. Michael TRICHET, UPMC, Paris (résumé) |
| 15h15 - 15h45 - | Optimisation de la
préparation d'échantillons et retouche numérique d'images : recherche
d'un certain "esthétisme" en Microscopie Electronique à Balayage. Stephan BORENSZTAJN, Institut de Physique du Globe, Paris (résumé) |
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Journées Pédagogiques des 7 et 8 décembre 2017 à Jussieu : "L'image dans tous ses états, de l'acquisition au traitement" |
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Jeudi 7 décembre | |
| 09h00 - 09h30 - | Accueil des participants |
| 09h30 - 10h30 - | Images, vision et couleur… de l’œil à l’image numérique Jacky RUSTE, GN-MEBA-Microscopie Icaunaise (résumé) |
| 10h30 - 14h00 - | Exposition Constructeurs et Stand EDP Sciences, (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h30 - | Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h30 - 15h15 - | Acquérir une image dans le MEB, optimiser l'acquisition Guillaume WILLE, BRGM - Orléans (résumé) |
| 15h15 - 15h45 - |
Reconstruction quantitative 3D de surface à partir d’images BSE multidétecteurs. Jan NEGGERS, LMT - ENS Paris-Saclay (résumé) |
| 15h45 - 16h15 - | Reconstruction
3D de microstructures polycristallines, approche destructive par coupes
successives vs non destructive par tomographie X. Henry PROUDHON, Centre des Matériaux, Mines ParisTech, Evry (résumé) |
| 16h15 - 16h45 - | Pause |
| 16h45 - 17h15 - | Vision par ordinateur et application à la MEB. Guy Le BESNERAIS, ONERA/DTIS - Chatillon (résumé) |
| 17h15 - 18h00 - | ImageJ : Découverte d'un outil polyvalent en imagerie Jean-Claude MENARD - AHEAD Microscopy (résumé) |
| Vendredi 8 décembre | |
| 09h00 - 09h30 - | Cartographie spectrale : Du principe à sa réalisation et son exploitation Denis BOIVIN, ONERA - Chatillon (résumé) |
| 09h30 - 10h30 - | Quelques éléments pour exploiter les images numériques du MEB Jean-Marc CHAIX, CNRS & Grenoble INP - SIMAP (résumé) |
| 10h30 - 11h00 - | Pause |
| 11h00 - 11h30 - | Les grandes images : Problématiques et perspectives Philippe FINKEL, CANTOR et Serge RIAZANOFF, VisioTerra (résumé) |
| 11h30 - 12h00 - | Un bon coup de balai : Imperfections de balayage en MEB Marc BONNET, LMT - ENS Paris-Saclay (résumé) |
| 12h00 - 12h30 - | Calcul des incertitudes de mesures dimensionnelles en MEB Philippe VOLCKAERT, Bureau Veritas - Pessac (résumé) |
| 12h30 - 14h15 - | Déjeuner libre |
| 14h15 - 14h45 - | Contributions de la microscopie électronique aux stratégies du biomimétisme France BOURELY JACZYNSKI, EPFL Lausanne (résumé) |
| 14h45 15h15 - | Stratégies
d'analyses d'images multi-spectrales à partir de cartographies
élémentaires rapides au MEB pour la segmentation et la
quantification de phases minéralogiques: principes et applications aux
matériaux de construction Samuel MEULENYZER, Lafarge LCR Lyon (résumé) |
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Journées Pédagogiques des 28 et 29 novembre 2016 à Jussieu : "Caractérisation chimique en MEB et microsonde-Apport de la spectrométrie WDS" |
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Lundi 28 novembre | |
| 09h00 - 09h30 - | Accueil des participants |
| 09h30 - 10h30 - | La spectrométrie par dispersion de longueur d’onde WDS, Introduction Jacky RUSTE, GN-MEBA résumé |
| 10h30 - 14h00 - | Exposition
Constructeurs et Stand EDP Sciences, (caves Esclangon) avec pause café
et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le
GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h30 - | Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h30 - 15h00 - | Comment travailler en WDS quand on vient de l’EDS ? Les différences, les similitudes, etc. Christine GENDARME, Institut Jean Lamour, Université de Lorraine, Nancy - résumé |
| 15h00 - 15h30 - | Comment analyser un échantillon en WDS ? Les différentes étapes Marie-Eline COUTURIER, Societe Francaise Ceramique, Les Ulis - résumé |
| 15h30 - 16h00 - | Les technologies WDS en faisceaux parallèle et convergent Florence ROBAUT, Université Grenoble Alpes, CNRS, SIMaP; CMTC, Grenoble INP - résumé |
| 16h00 - 16h30 - | Pause |
| 16h30 - 17h00 - | Microanalyse WDS: du signal détecté au k-ratio Guillaume WILLE, BRGM, Orléans - résumé |
| 17h00 - 17h30 - | La dispersion du rayonnement X : cristaux et réseaux Philippe JONNARD, UPMC, Paris - résumé |
| 17h30 - 18h00 - | WD-XRF en cosmétique Philippe HALLEGOT, L'Oreal Recherche Aulnay-sous-Bois - résumé |
| Mardi 29 novembre | |
| 09h00 - 09h30 - | Couplage EDS / WDS en MEB et applications Denis BOIVIN, Onera, Chatillon - résumé |
| 09h30 - 10h00 - | Quantification en EDS et WDS: aspects pratiques Andrea CAMPOS, CP2M, Université Aix Marseille - résumé |
| 10h00 - 10h30 - | Comparaison WDS en MEB et microsonde Fabrice GASLAIN, Centre des Matériaux, MINES Paristech, Evry - résumé |
| 10h30 - 11h00 - | Pause |
| 11h00 - 11h30 - | Intérêt des sources FEG en microsonde électronique Emmanuelle BRACKX, CEA Marcoule - résumé |
| 11h30 - 12h00 - | Contribution de la microsonde électronique à la caractérisation des couches minces Alexandre CRISCI, Université Grenoble Alpes, CNRS, SIMaP - résumé |
| 12h00 - 12h30 - | Analyses sur des matériaux assez exotiques (UO2-PuO2-Am2O3) Gauthier JOUAN, CEA Marcoule - résumé |
| 12h30 - 14h15 - | Déjeuner libre |
| 14h15 - 14h45 - | Cartographie élémentaire des mineurs et traces pour comprendre l’histoire de cristallisation des roches métamorphiques Benoît DUBACQ, Camparis UPMC, Paris - résumé |
| 14h45 15h15 - | Ech test : résultats des tests et un regard spécial pour le WDS Jacky RUSTE, GN-MEBA |
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Journées Pédagogiques des 30 novembre et 1er décembre 2015 à Jussieu : "Le MEB, un micro-laboratoire" |
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Lundi 30 novembre | |
| 09h00 - 09h30 : | Accueil |
| 09h30 - 10h30 : |
Le MEB a 50 ans - Revue d’actualités - Echantillon test , Jacky RUSTE, GN-MEBA |
| 10h30 - 14h00 : | Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h30 : |
Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h30 - 15h00 : |
L'ESEM
un outil pour tout faire: de la caractérisation mécanique des fibres
cellulosiques à ... l'électronique imprimée - Raphael PASSAS, Pagora
INP Grenoble résumé |
| 15h00 - 15h30 : | Cosmétique in situ dans le MEB - Philippe HALLEGOT, L'Oreal Recherche Aulnay-sous-Bois résumé |
| 15h30 - 16h00 : |
Cryo / SEM, au plus proche de l'état natif - Perrine BOMME, Institut Pasteur Paris résumé |
| 16h00 - 16h30 : | Pause |
| 16h30 - 17h00 : |
Observations
de différents échantillons en microscopie corrélative intégrée:
fluorescence et microscopie électronique à balayage (iLSEM) - Isabelle
PAINTRAND, LMPG INP Grenoble résumé |
| 17h00 - 17h30 : |
La résolution spatiale en mode environnemental: exemple des BSE - Lahcen KHOUCHAF, Ecole des Mines de Douai résumé |
| ANNULE |
Imagerie en électrons rétrodiffusés - Raynald GAUVIN, Univ McGill Montreal résumé |
| Mardi 1er décembre | |
| 09h00 - 09h30 : | Couplage microscopies optique et électronique pour essais micromécaniques in situ - Denis BOIVIN, ONERA Chatillon |
| 09h30 - 10h00 : | Nano-indentation in situ au MEB - Solène COMBY, SIMAP Grenoble |
| 10h00- 10h30 : | Illustration
des couplages MEB / spectroscopie Raman et MEB / microanalyse X
(EDS et WDS) par quelques applications dans les domaines des
matériaux de l'industrie appelés à fonctionner à haute
température, des milieux naturels carbonatés et des produits de
l'agro-alimentaire - Yannick ANGUY, ENSAM Bordeaux résumé |
| 10h30 - 11h00 : | Pause |
| 11h00 - 11h30 : |
Le dual beam SEM-FIB et sa baguette magique - Jean-François MOTTE, Institut Néel, CNRS Grenoble résumé |
| 11h30-12h00 |
Les applications du FIB / SEM en biologie - Adeline MALLET, Institut Pasteur Paris résumé |
| 12h00-12h30 |
Couplage de techniques électroniques - Maxime BERTHE, IEMN ISEN Lille résumé |
| 12h30 - 14h15 : | Déjeuner libre |
| 14h15 - 14h45 : | Prises de contact et caractérisations électriques de nano-composants dans un MEB - Fabien BAYLE, IEF Orsay résumé |
| 14h45 - 15h15 : | Micro-usinage,
préparation et cisaillement in-situ d'un monocristal sous MEB-FIB -
Thomas TANCOGNE DEJEAN, LMS Ecole Polytechnique Palaiseau résumé |
| 15h15-15h45 |
Essais in situ instrumentés - Ovidiu BRINZA, LSPM CNRS Villetaneuse |
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Journées Pédagogiques des 4 et 5 décembre 2014 à Jussieu : "La basse énergie en MEB et les microanalyses" |
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Jeudi 4 décembre | |
| 09h00 - 09h30 : | Accueil |
| 09h30 - 10h30 : |
Pourquoi vouloir absolument travailler à basse tension? Intérêts et limitations. (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé |
| 10h30 - 14h00 : | Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h15 : |
Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h15 - 14h30 : |
Présentation du nouveau forum du site GN-MEBA. (Fabrice Gaslain, Mines ParisTech, PSL - Research University, Evry 91) |
| 14h30 - 15h00 : |
Qu'est-ce qu'une surface ? (Evelyne Darque-Ceretti, Mines ParisTech, PSL - Research University, CEMEF, Sophia Antipolis 06) résumé |
| 15h00 - 15h30 : | Préparation des échantillons pour analyse à basse énergie. (Patrice Lehuédé, C2RMF, Paris 75) résumé |
| 15h30 - 16h00 : |
Emission d'électrons secondaires et rétrodiffusés à très basse énergie d'incidence (5eV-1keV). (Mohamed Belhaj, Onera, Toulouse 31) résumé |
| 16h00 - 16h30 : | Pause |
| 16h30 - 17h00 : |
Les émissions X caractéristiques de basse énergie. (Philippe Jonnard, UPMC, Paris 75) résumé |
| 17h00 - 18h00 : |
Imagerie
et analyses chimiques à haute résolution spatiale, à basse tension
d'accélération des électrons, avec un FE-SEM de pointe. (Raynald Gauvin, Univ. Mc Gill Montréal) résumé |
| 17h00 - 17h45 : |
PRESENTATION ANNULEE : De la physique des émissions électroniques aux contrastes des images en MEB. (Jacques Cazaux, Université de Reims, Reims 51) résumé Nous avons la douleur d'apprendre le décès de Monsieur Jacques CAZAUX,
survenu le 4 décembre 2014 à 14h00 à la clinique des Bleuets à Reims. |
| Vendredi 5 décembre | |
| 09h00 - 09h30 : | Les solutions technologiques en microscopie électronique à balayage pour l'imagerie à basse tension. 1ère partie : les canons et les colonnes. (Francine Roussel, CMTC, INP Grenoble, St Martin d'Hères 38) résumé |
| 09h30 - 10h00 : | Les solutions technologiques en microscopie électronique à balayage pour l'imagerie à basse tension. 2ème partie : les détecteurs. (Frédéric Charlot, CMTC, INP Grenoble, St Martin d'Hères 38) résumé |
| 10h00- 10h30 : | Pause |
| 10h30 - 11h15 : | Applications micro-électroniques de faisceau d'électrons à basse énergie et criticité de la contamination (Mona Moret, Cameca, Gennevilliers 92) résumé |
| 11h15 - 12h00 : |
Cathodoluminescence dans le MEB: Apport de la basse tension. (Brigitte Sieber, Université de Lille, Villeneuve d'Ascq 59) résumé |
| 12h00 - 13h45 : | Déjeuner libre |
| 13h45 - 14h15 : | Analyse des couches minces superficielles à basse tension. (Florence Robaut, CMTC, St Martin d'Hères 38) résumé |
| 14h15 - 14h45 : | Spectrométrie de rayons X à basse tension. (Guillaume Wille, BRGM, Orléans 45) résumé |
| 14h45 - 15h30 : | Microanalyse X basse tension, quelle précision peut-on en attendre ? (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé |
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Journées Pédagogiques des 25 et 26 Novembre 2013 à Jussieu : |
Annonce
Programme
avec résumés télécharger
les présentations (accès restreint) |
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| Lundi 25 Novembre 2013 |
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| 09h00 - 09h30 : | Accueil |
| 09h30 - 10h30 : |
Résultats concernant l'échantillon test, analyses statistiques (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé |
| 10h30 - 14h00 : |
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h30 : | Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h30 - 15h15 : |
Etat de l'art, techniques de diffraction en MEB et généralités sur l'EBSD ( Anne-Françoise Gourgues-Lorenzon, Mines-Paristech, Evry) résumé |
| 15h15 - 15h45 : |
Historique (François Brisset, Université Paris-Sud, Orsay) résumé |
| 15h45 - 16h15 : |
Pause |
| 16h15 - 16h45 : |
Notions de cristallographie pour l'EBSD. Aspect texture et comparaison entre EBSD, DRX et neutrons - différences et complémentarité (Denis Solas, Université Paris-Sud, Orsay) |
| 16h45 - 17h15 : |
EBSD et 3D (Stefan Zaefferer, Max-Planck-Institut GmbH, Düsseldorf) |
| 17h15 - 17h45 : |
EBSD et applications in-situ (méca, chauffage, etc.) (Anne-Laure Helbert, Université Paris-Sud, Orsay) résumé |
| 17h45 - 18h15 : |
Un complément à l'EBSD: la technique ICCE - Comparaison ((Stefan Zaefferer, Max-Planck-Institut GmbH, Düsseldorf, qui remplace Thierry Auger, Ecole Centrale Paris) |
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Mardi 26 Novembre 2013 |
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| 09h00 - 09h30 : | Préparation des échantillons (Bénédicte Brugier, AREVA NP, Le Creusot) résumé |
| 09h30 - 10h00 : |
EBSD et bio-matériaux (Xavier Bourrat, BRGM, Orléans) résumé |
| 10h00 - 10h30 : |
Pause |
| 10h30 - 11h00 : |
Analyse des contraintes par EBSD (Patrick Villechaise, ENSMA Poitiers) résumé |
| 11h00 - 11h30 : |
EBSD sur lames minces (Fabrice Gaslain, Mines-Paristech, Evry) résumé |
| 11h30 - 12h00 : |
Couplage EBSD et essais mécaniques, ingénierie des joints de grains, aspects technologiques (Denis Boivin, Onera, Chatillon) résumé |
| 12h00 - 13h30 : |
Déjeuner libre |
| 13h30 - 14h00 : |
Couplage EBSD et EDS (Gilles Morvan, Labo. Hydrologie et Géochimie, Strasbourg) résumé |
| 14h00 - 14h30 : |
Couplage EBSD et Raman (Guillaume Wille - Abdeltif LAHFID, BRGM, Orléans) résumé |
| 14h30 - 15h00 : |
La diffraction de Kossel en MEB (Raphaël Pesci remplacé par Denis Bouscaud, Arts et Métiers Paristech, Metz) résumé |
| 15h00 - 15h30 : |
Améliorer la résolution angulaire de l'EBSD : pourquoi? comment? (Claire Maurice, Ecole des Mines St-Etienne) résumé |
| 15h30 - 16h00 : |
Table ronde |
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Journées Pédagogiques des 6 et 7 décembre 2012
à Jussieu : "Techniques de microanalyse élémentaire et autres caractérisation dans le MEB" |
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Jeudi 6 décembre 2012 Les techniques de microanalyse élémentaire : spectrométries EDS et WDS |
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| 09h00 - 09h30 : |
Accueil |
| 09h30 - 10h15 : |
Principe de l'émission X (Philippe Jonnard, UPMC Paris) résumé |
| 10h15 - 10h25 : | Lancement du circuit d'inter-comparaison d'analyse EDS et WDS (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé |
| 10h30 - 14h00 : (caves Esclangon) |
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h30 : | Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h30 - 15h15 : | Les détecteurs EDS : technologie, principe de fonctionnement, évolution (Laurent Maniguet, CMTC Grenoble) |
| 15h15 - 15h55 : | Les spectromètres WDS - aspects technologiques (faisceau convergent, faisceau parallèle) (Guillaume Wille, BRGM Orléans - Florence Robaut, CMTC Grenoble) |
| 15h55 - 16h15 | Pause |
| 16h15 - 16h45 | Analyse EDS : traitement des spectres (Christine Gendarme, IJL Nancy) résumé |
| 16h45 - 17h30 | Analyse WDS : traitement des spectres et analyse quantitative (Jacky Ruste, GN-MEBA) résumé |
| 17h30 - 18h15 | Source FEG en spectrométrie WDS : apports et limitations (Sandrine Mathieu, Univ. Nancy) résumé |
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| 09h00 - 09h30 | Analyses d’indices matériels par MEB/EDX au profit des enquêtes judiciaires ( Thierry Dodier, IRCGN Rosny /Bois) résumé |
| 09h30 - 10h00 | Analyse de couches minces par WDS, corrélation à l'analyse Auger et SIMS (Frédéric Christien, Polytech'Nantes) résumé |
| 10h00 - 10h30 | Pause |
| 10h30 - 11h00 | Cartographies X : de la genèse aux tous derniers développements. A quoi peut-on s’attendre? (Fabrice Gaslain, Mines ParisTech' Evry) résumé |
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Autres
techniques de caractérisation dans le MEB |
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| 11h00 - 11h30 | Microfluorescence X dans le MEB : principe, apports, comparaison avec l'EDS (Mathias Procop, IFG Institute Berlin) résumé |
| 11h30 - 12h00 | Cathodoluminescence dans le MEB: principe, appareillage, imagerie et application (Pierre-Marie Coulon, CRHEA Sophia-Antipolis) résumé |
| 12h00 - 14h00 | Déjeuner libre |
| 14h00 - 14h30 | Tomographie X dans le MEB (Pascal Gounet, ST Ericsson Grenoble) résumé |
| 14h30 - 15h00 | Couplage MEB-Raman : principe, technologie, applications (Guillaume Wille, BRGM Orléans) résumé |
| 15h00 - 15h30 | EBSD : principes généraux, courant et vitesse d'acquisition (François Brisset, Univ. Paris-sud Orsay) résumé |
| 15h30 - 16h00 | Table ronde sur les exposés et questions diverses |
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Journées
Pédagogiques des 1er et 2 décembre 2011 (Jussieu) " Imagerie et analyses : de la 2D à la 3D / Le MEB-FIB* : principe et applications " (*faisceau d'ions focalisé) |
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Jeudi 1er Décembre 2011 |
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| 09h00 - 09h30 : |
Accueil |
| 09h30 - 10h00 : |
Reconstruction de surface 3D par stéréoscopie MEB : principes, algorithmes
et résultats |
| 10h00 - 10h30 : | Imagerie Confocale Raman : Principe, instrumentation
et applications Maxime Tchaya Njantio, WITec GmbH (résumé) |
| 10h30 - 14h00 : (caves Esclangon) |
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h30 : | Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h30 - 15h00 : | Les 50 ans du Groupement : Si l'histoire du GN-MEBA m'était contée par Jacky Ruste |
| 15h00 - 15h15 : | Introduction à la thématique MEB-FIB. Florence Robaut, CMTC Grenoble-INP |
| 15h15 - 15h45 | Pause |
| 15h45 - 16h15 | FIB : Canon et Colonne ioniques. Frédéric Charlot, CMTC Grenoble-INP (résumé) |
| 16h15 - 17h15 | Interactions ions-matière mises en jeu dans l'abrasion
et le dépôt par voie ionique. Influence des conditions opératoires
sur l'abrasion en faisceau d'ions. Jean-Claude Ménard, Zeiss France (résumé) |
|
|
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| 09h00 - 09h30 | Apport des accessoires du MEB-FIB à travers différentes
applications. Eric Gautier, CNRS Spintec Grenoble |
| 09h30 - 10h00 | Mécanismes et stratégies de dépôts assistés par FIB.
Guillaume Audoit, CEA Leti, Grenoble (résumé) |
| 10h00 - 10h30 | Préparation de lames TEM et autres applications liées
au domaine semi-conducteur et aux systèmes microélectromécaniques. David Troadec, IEMN Lille (résumé) |
| 10h30 - 11h00 | Pause |
| 11h00 - 11h30 | Applications diverses 3D. Marco Cantoni, EPFL Lausanne (résumé) |
| 11h30 - 12h00 | Microanalyse EDS en 3D par MEB-FIB : perspectives et
limitations. Pierre Burdet, EPFL Lausanne (résumé) |
| 12h00 - 12h30 | EBSD 3D par MEB-FIB. Dominique Loisnard, Lucie Saintoyant, EDF Renardières, Moret sur Loing |
| 12h30 - 12h50 | Procédure de correction de dérive lors de séries 3D en
FIB. Bertrand Van de Moortèle, ENS Lyon (résumé) |
| 12h50 - 14h30 | Déjeuner libre |
| 14h30 - 15h00 | Applications MEB-FIB en minéralogie et biologie. Imène Estève, IMPMC Univ. Pierre et Marie Curie, Paris |
| 15h00 - 15h30 | Apport du MEB-FIB à l'étude des matériaux du nucléaire.
Laurent Legras, EDF Renardières, Moret sur Loing |
| 15h30 - 16h00
|
Préparation de pointes pour la sonde atomique tomographique par FIB.
Emmanuel Cadel, Univ. Rouen (résumé) |
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Réunion des 2 et 3 décembre 2010 (Site des CORDELIERS):" Colonnes électroniques et ioniques - Détecteurs spécifiques associés : Etat de l'art présenté par les constructeurs " |
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Jeudi 2 Décembre 2010 |
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| 09h00 - 09h30 : |
Accueil |
| 09h30 - 10h30 : |
Histoire de la microscopie électronique à balayage,
|
| 10h30 - 13h45 : (à JUSSIEU) |
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
| 14h00 - 14h30 : | Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 14h30 - 15h00 : | Microscopes conventionnels EVO, derniers
développements, Laurent VET (Carl Zeiss) (résumé) |
| 15h00 - 15h30 | Microsonde Cameca : la colonne électronique,
Michel OUTREQUIN (Cameca) (résumé) |
| 15h30 - 16h00 | Microsonde de Castaing, pourquoi nous en
avons toujours besoin, spécificités par rapport aux EDS
- Les nouvelles possibilités de la microsonde à effet de
champ, Jacky LARNOULD (Jeol) (résumé) |
| 16h00 - 16h20 | Pause |
| 16h20 - 16h50 | Nouveaux développements en microscopie
électronique à balayage haute résolution à
très basses énergies, Thierry GRENUT (Elexience) (résumé) |
| 16h50 - 17h20 | Technologies pour la microscopie électronique
à balayage de résolution sub-nanométrique à
haute et basse tension, Laurent ROUSSEL (FEI) (résumé) |
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| 09h00 - 09h30 | Voir l'inaccessible de manière naturelle : Colonne
FEG et détecteurs - TESCAN Mira3, InBeam, LVSTD, David BARRESI (Eloïse-Sarl) (résumé) |
| 09h30 - 10h00 | Les évolutions de la colonne GEMINI, Smaïl CHALAL (Carl Zeiss) (résumé) |
| 10h00 - 10h30 | Microscopie électronique à balayage en
transmission : contraintes et solutions pour l'imagerie en très
haute résolution, Thierry GRENUT (Elexience) (résumé) |
| 10h30 - 10h50 | Pause |
| 10h50 - 11h20 | Technologies de l'ESEM, ses détecteurs et dernières
nouveautés, Michel TRENTIN (FEI) (résumé) |
| 11h20 - 11h50 | Le ClairScope™ : MEB Atmosphérique, un outil
de microscopie corrélative photonique-électronique, Franck CHARLES (Jeol) (résumé) |
| 11h50 - 12h20 | FIB FEG / Xbeam, présentation des colonnes et
des détecteurs. Jean-Claude MENARD (Carl Zeiss) (résumé) |
| 12h20 - 14h20 | Déjeuner libre |
| 14h20 - 14h50 | Utilisation d'un FIB-SEM pour la préparation très
rapide d'échantillons pour l'observation ultra haute résolution
ou pour l'imagerie 3D, Laurent LOOS (Elexience) (résumé) |
| 14h50 - 15h20 | Technologie et dernières avancées liées
aux systèmes à faisceau d'ions focalisés FEI, Laurent ROUSSEL (FEI) (résumé) |
| 15h20 - 15h50 | TESCAN - Innovations des éléments de colonnes
SEM - FIB, David BARRESI (Eloïse-Sarl) (résumé) -ANNULE- |
| 15h50 - 16h20 | Orion Helium-ion-microscope (HIM) : Perspectives en Microscopie
à Balayage, Jean-Claude MENARD (Carl Zeiss) (résumé) |
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Réunion
des 3 et 4 décembre 2009 à Paris 06 (site des Cordeliers) : "Microanalyse
X quantitative : quelle fiabilité pour quelle analyse ?" |
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Jeudi 3 Décembre 2009 |
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| 09h00 - 09h30 : | Accueil | |
| 09h30 - 10h30 : | Les principes de l'analyse quantitative - Comment effectuer une bonne analyse ? Rappels sur les méthodes de quantification, Jacky Ruste, GN-MEBA (résumé) | |
| 10h30 - 13h45 : (à JUSSIEU) |
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| 14h00 - 14h30 : |
Assemblée Générale du GN-MEBA et Résultats de l'Enquête sur les MEB |
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| 14h30 - 15h15 : | Les sources d'erreurs et d'incertitudes, Claude Merlet, Univ Montpellier (résumé) | |
| 15h15 - 15h45 : | Les sources d'erreurs sur les paramètres fondamentaux, Marie-Christine Lepy, CEA Saclay (résumé) | |
| 15h45 - 16h05 : | Exemples d'erreurs liés aux coefficients d'absorption, Lahcen. Khouchaf, Ecole des Mines de Douai (résumé) | |
| 16h05 - 16h30 : | Pause | |
| 16h30 - 17h00 : | EDS : fiabilité de l'analyse sans témoin, Denis Boivin, ONERA Chatillon (résumé) | |
| 17h00 - 17h30 : | Microanalyse X sous pression contrôlée : possibilités et limites, Lahcen. Khouchaf, Ecole des Mines de Douai, Christian Mathieu, Univ. D'Artois, Monique Repoux, ENSMP Sophia Antipolis (résumé) | |
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| 09h00 - 09h30 : | Analyse des rayonnements de faible énergie, Philippe Jonnard, Univ. Pierre et Marie Curie, CNRS (résumé) | |
| 09h30 - 10h00 : | Résolution spatiale de la microanalyse: influence de la tension d'accélération, du rayonnement X et de l'absorption, Jacky Ruste, GN-MEBA (résumé) | |
| 10h00 - 10h20 : | Sources d'erreurs liées à l'échantillon, François Brisset, Univ. Paris Sud 11, CNRS (résumé) | |
| 10h20 - 10h35 : | Pause | |
| 10h35 - 11h00 : | Cas des échantillons stratifiés : méthode et limites, Claude Merlet, Univ Montpellier (résumé) | |
| 11h00 - 11h45 : | Microanalyse X sur échantillons isolants, Jacques Cazaux, Univ. Reims (résumé) | |
| 11h45 - 12h15 : | Traitement statistique des données, Jean-Louis Longuet, CEA Le Ripault (résumé) | |
| 12h15 - 14h00 : | Déjeuner libre | |
| 14h00 - 14h30 : | Contrôle et calibration en EDS et WDS, Christine Gendarme, Institut Jean Lamour, Nancy (résumé) | |
| 14h30 - 15h00 : | Les normes en analyse quantitative, Florence Robaut, CMTC, Grenoble | |
| 15h00 - 16h30 : | Présentation des résultats sur les échantillons
tests, Jean-Louis Longuet, CEA Le Ripault, et Jacky Ruste, GN MEBA
(résumé) suivie d'une TABLE RONDE |
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Réunion
des 4 et 5 décembre 2008 à Paris 06 (site des Cordeliers) : "Expertise
de la rupture et autres défaillances" |
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Jeudi 4 Décembre 2008 |
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| 09h00 - 09h30 : | Accueil | |
| 09h30 - 10h00 : | Exposé introductif : sollicitation mécanique, mécanique de la rupture, Jacky Ruste, GN-MEBA (résumé) | |
| 10h00 - 10h30 : | L'analyse de défaillances dans le ferroviaire, Philippe Feraud, Agence d'essai ferroviaire SNCF | |
| 10h30 - 13h45 : (à JUSSIEU) |
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
|
| 14h00 - 14h30 : |
Assemblée Générale
du GN-MEBA |
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| 14h30 - 15h00 : | Expertise d'aubes de turbines à combustion, Frédéric Delabrouille, Laurent Legras, EDF R&D | |
| 15h00 - 15h30 : | La datation de fissures sur éléments de structure d'avion, apport du MEB-FEG, Frédéric Masgrangeas, Ludovic Fehrenbach, Laboratoire Pessac, Bureau VERITAS | |
| 15h30 - 16h00 : |
Pause |
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| 16h00 - 16h30 : | Propriétés d'endommagement de films de nitrure de titane et d'aluminium étudiées à l'échelle nanométrique, Marie-Hélène Tuilier, Lab. MMPF, Univ. de Haute Alsace (résumé) | |
| 16h30 - 17h00 : | Identification des mécanismes de rupture sur des soudures par point de friction malaxage, Sandrine Bozzi, ICMMO/LPCES, Université de Paris Sud (résumé) | |
| 17h00 - 17h30 : | Défaillance des connecteurs automobiles, Florence Lestrat, Renault Guyancourt | |
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Vendredi 5 Décembre 2008
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| 09h00 - 09h30 : | Dégradation des matériaux du bâtiment : fissuration, perméabilité, microstructure, Sylvine Guedon, LCPC- Section GMRGE/MSRG (résumé) | |
| 09h30 - 10h00 : | Etude par microscopie électronique à balayage du comportement mécanique du cheveu sous conditions environnementales, Philippe Hallegot, l'Oreal Recherche (résumé) | |
| 10h00 - 10h30 : | Évaluation tri-dimensionnelle des micro-fissures dans l’os trabéculaire humain par micro-CT synchrotron, Aymeric Larrue, CREATIS/ESRF (résumé) | |
| 10h30 - 11h00 : | Pause | |
| 11h00 - 11h30 : | Défaillance en archéologie : MEB et microanalyse X, outils diagnostiques et exploratoires, perspectives en ostéo-archéologie, William Devriendt, Direction de l'Archéologie de la Communauté d'Agglomération de Douaisis (résumé) | |
| 11h30 - 12h00 : | Rupture dans les matériaux composites, Anthony Bunsell, CDM - MinesParisTech, Evry (résumé) | |
| 12h00 - 14h00 : | Déjeuner libre | |
| 14h00 - 14h30 : | L'application de l'analyse fractographique en expertise de pièces composites, Benoît Poitou, CETIM Nantes (résumé) | |
| 14h30 - 15h00 : | Etude structurale des phases siliceuses: diagnostic de la défaillance du béton, Amine Hamoudi, Ecole des Mines de Douai (résumé) | |
| 15h00 - 15h30 : | Rôle de la rugosité interfaciale dans l'endommagement des barrières thermiques (revêtement protecteur des superalliages utilisés dans l'aéronautique), Martine Poulain, ONERA-DMSM (résumé) | |
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Réunion
des 29 et 30 novembre 2007 à Paris 06 (site des Cordeliers) : "Préparation
des échantillons pour les observations en MEB et les analyses" |
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Jeudi 29 Novembre 2007 |
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| 08h45 - 09h00 : | Accueil | |
| 09h00 - 09h30 : | Introduction (Jacky Ruste) | |
| 09h30 - 10h00 : | Découpe des matériaux durs (Rémi Chiron - LPMTM Villetaneuse) | |
| 10h00 - 10h30 : | Techniques d'Enrobage (Sonia Achard - Technocentre Renault) | |
| 10h30 - 13h45 : (à JUSSIEU) |
Exposition Constructeurs et stand EDP Sciences (caves Esclangon) avec pause café et repas (buffet froid) offert aux adhérents du groupement par le GN-MEBA et les constructeurs. |
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| 14h00 - 14h30 : |
Assemblée Générale
du GN-MEBA |
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| 14h30 - 15h10 : | Polissage mécanique (François Grillon - ENSMP) | |
| 15h10 - 15h50 : | Décapage de surface et attaque métallographique (Florence Le Strat - Technocentre Renault) | |
| 15h50 - 16h05 : |
Pause |
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| 16h05 - 16h50 : | Nettoyage et décontamination (Frédéric Charlot - CMTC, St Martin d'Hères) | |
| 16h50 - 17h30 : | Polissage ionique (Marco Cantoni - EPFL / CIME) | |
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Vendredi 30 Novembre 2007
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| 09h00 - 09h50 : | Préparation d'échantillons minces (Luc Beaunier
- Université Paris VI) -appel à contribution- |
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| 09h50 - 10h10 : | Dispositifs de Fixation des échantillons (Jacky Ruste) | |
| 10h10 - 10h40 : | Problématique du Stockage (Christian Mathieu - Université d'Artois) | |
| 10h40 - 11h00 : | Pause | |
| 11h00 - 11h40 : | Métallisation des échantillons (François Brisset - Université Paris XI) | |
| 11h40 - 12h20 : | Techniques de Marquage de surface (Amanda Martinez-Gil - LPL Villetaneuse) | |
| 12h20 - 14h30 : | Déjeuner libre | |
| 14h30 - 15h15 : | Préparation des matériaux mous (Alain Jadin - CERTECH) | |
| 15h15 - 16h45 : | Artéfacts et autres bizarreries : Table ronde | |
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Réunion
des 30 novembre et 1er décembre 2006 à Paris - Jussieu "Techniques associées à la Microscopie Electronique à Balayage et Applications Biologiques" |
| programme
et résumés |
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| 08h45 - 09h00 : | Accueil |
| 09h00 - 09h40 : | Micro-XRF excitation in an SEM - Dr Michael Haschke (IfG - Institute for Scientific Instruments GmbH, Berlin, Germany) |
| 09h40 - 10h15 : | Essais in-situ en MEB - Eva Héripré (ENSMP - Evry) |
| 10h15 - 10h45 : |
Caractérisation automatique des inclusions par un système MEB-EDS piloté par analyse d'images - Eric Hénault (Ascométal) |
| 10h45 - 10h50 : | Annonce concernant la réunion de décembre 2007 - Luc Beaunier |
| 10h50 - 13h45 : |
Rencontres techniques, pause-café et lunch offerts par le GN-MEBA et les constructeurs aux adhérents du groupement |
| 14h00 - 15h00 : |
Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 15h00 - 15h10 : | Intervention de Hélène Maury |
| 15h10 - 15h15 : | Remise du prix MAS " Castaing Award " à Mlle Hélène Maury par R. Gauvin |
| 15h15 - 16h00 : | Optique ionique dans un nanoSIMS - Tom Wirtz (LAM, CRP G. Lippmannn) |
| 16h00 - 16h30 : | Pause |
| 16h30 - 17h30 : | La microlithographie, le FIB et ses applications - Thierry Fournier (CNRS Grenoble) |
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Vendredi 1er décembre 2006 : Applications Biologiques
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| 09h00 - 09h35 : | Apports du FIB pour des applications en biologie végétale - Didier Le Thiec (INRA, Nancy) |
| 09h35 - 10h10 : | NanoSIMS et biologie - Jean-Luc Guerquin-Kern (Institut Curie, Orsay) |
| 10h10 - 10h45 : | Nouvelles applications biologiques du TOF-SIMS avec les sources d'ions polyatomiques - Alain Brunelle (ICSN, CNRS-Gif sur Yvette) |
| 10h45 - 11h15 : | Pause |
| 11h15 - 11h50 : | L'organisation d'un centre commun de Microscopie. Mise en place de la démarche qualité - Brigitte Gaillard-Martinie (INRA, Clermont-Ferrand) |
| 11h50 - 13h50 : | Déjeuner libre |
| 13h50 - 14h25 : | Observation des effets antibactériens d'huiles essentielles (HE) chémotypées en microscopie électronique à balayage - Laurence Mayaud (CHU St-Etienne) |
| 14h25 - 15h00 : | Tomographie électronique: principes et applications - Cedric Messaoudi (Institut Curie, Orsay) |
| 15h00 - 15h35 : | Pause |
| 15h35 - 16h10 : | Corrélation entre la microscopie à fluorescence et la cryo-tomographie électronique en conditions cryogéniques: études structurelles et morphologiques de cellules intactes - Anna Sartori (Max Planck Institut) |
| 16h10 - 16h45 : | Microscopie multiphotonique: principes et applications - Anne Colonna (L'Oréal Recherche) |
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Réunion
des 8 et 9 décembre 2005 (Jussieu) : "La microanalyse X par sonde électronique" |
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Les textes
ou présentations des conférenciers sont sur le site
dans la page reservée aux membres cotisants du GN-MEBA |
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| Jeudi 8 Décembre 05: | |
| 08h45 - 09h00 : | Accueil |
| 09h00 - 09h45 : | Production et caractéristiques
du rayonnement X Christiane Bonnelle, (Université P. et M. Curie, Paris Jussieu) |
| 09h45 - 10h30 : | Statistique
en microanalyse Jacky Ruste (EDF, Les Renardières) |
| 10h30 - 13h45 : |
Rencontres techniques et Buffet offert par les constructeurs aux adhérents GN-MEBA |
| 14h00 - 15h00 : |
Assemblée Générale du GN-MEBA |
| 15h00 - 15h45 : | Les spectromètres WDS
- aspects technologiques Florence Robaut (CMTC-INP Grenoble) |
| 15h45 - 16h15 : | Pause |
| 16h15 - 16h45 : | Le traitement des spectres WDS Claude Merlet (Université de Montpellier) |
| 16h45 - 17h15 : | Miroirs multicouches gravés
pour l'analyse spectrométrique X des éléments légers Jean-Michel André (Université P. et M. Curie, Paris Jussieu) |
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Vendredi 9 Décembre 05: |
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| 09h00 - 10h00 : | Les spectromètres EDS
et les détecteurs SDD - aspects technologiques Laurent Maniguet (CMTC-INP Grenoble) |
| 10h00 - 10h30 : | Le traitement des spectres EDS Denis Boivin (ONERA, Châtillon) |
| 10h30 - 10h45 : | Pause |
| 10h45 - 12h00 : | Les Méthodes de quantification,
application à des micro-volumes homogènes et stratifiés Jean-Louis Pouchou (ONERA, Châtillon) |
| 12h00 - 13h45 : | Pause déjeuner |
| 13h45 - 14h15 : | La microscopie électronique
à pression contrôlée et l'analyse EDS Lahcen Khouchaf (Ecole Nationale Supérieure des Mines de Douai, Douai) |
| 14h15 - 14h45 : | Les Images X (numériques,
quantitatives, …) Annie Malchere (INSA, Lyon) |
| 14h45 - 15h00 : | Pause |
| 15h00 - 15h30 : | L'analyse combinée EDS-WDS Jean-François Thiot (SAMx) |
| 15h30 - 16h00 : | Détecteurs cryogéniques
de type bolomètre pour la spectrométrie X, applications dans
la recherche et l'industrie Elvire Leblanc (CEA Saclay) |
| 16h00 - 16h30 : | Analyse des résultats
sur les échantillons tests et Discussion - Bilan Jacky Ruste (EDF, Les Renardières) |
Vendredi
3 décembre 2004 |
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