Opération " échantillon test " : que peut-on en conclure ?

Jacky Ruste
Jacky.ruste@free.fr
http://micro.icaunais.free.fr

Cette année, 50 laboratoires ont participé à cette nouvelle opération " échantillon-test ", représentant presque 200 analyses à 20 et 5 kV, aussi bien en EDS, WDS et microsondes, en vide poussé comme en pression contrôlée.
Par une étude statistique des résultats, on tentera d'en extraire quelques indications concernant l'influence de certains paramètres opératoires.

 

Jean-Louis Longuet,
CEA Le Ripault

Nous présenterons les résultats d'un circuit d'intercomparaison sur deux échantillons de SiC. Cette étude a été effectuée au sein du groupe de travail n°21 (GT21) de la Commission d'ETAblissement des Méthodes d'Analyses (CETAMA) du C.E.A.. Il regroupe des utilisateurs de microanalyses X par WDS et EDS. Après avoir rappelé quelques exemples d'applications du SiC au C.E.A., nous préciserons les difficultés analytiques rencontrées sur ce type de matériau qui ont motivé la mise en place d'un circuit d'intercomparaison interne. L'ensemble des résultats a été traité à l'aide des outils statistiques présentés lors de l'exposé " Traitement statistiques des données de microanalyses ". L'effet de ces traitements sera discuté. Nous présenterons également quelques exemples d'informations pouvant être tirées à partir des données brutes (comparaison de la sensibilité des cristaux suivant l'age des machines WDS, comparaison des rapports pics/fond suivant la méthode de mesure, etc…).