1- Une technique innovante de détection des électrons transmis dans le MEB : Hitachi UVD-STEM.

2- Polisseur ionique hybride Hitachi IM5000 « Ar Blade » : préparation de très larges zones en cross-section et polissage à plat à grande vitesse.

Lien de connexion par Gotowebinar , Vendredi 4/12/2020 - 16h00

Une technique innovante de détection des électrons transmis dans le MEB : Hitachi UVD-STEM

Hitachi High Tech a mis au point un détecteur d’électrons transmis dans le MEB original : l’UVD-STEM.

Ce dispositif amovible, très simple de mise en oeuvre, est identique pour toute la gamme des MEB Hitachi équipés du détecteur UVD (Variable Pressure SE detector) : MEB de table et compact (TM4000, Flex SEM), MEB à filament de tungstène (SU3800 et SU3900), MEB FEG (SU5000 et SU7000). L’UVD-STEM peut être utilisé en mode pression variable et en mode vide poussé.

Polisseur ionique hybride Hitachi IM5000 « Ar Blade » : préparation de très larges zones en cross-section et polissage à plat à grande vitesse

Le polisseur ionique Hitachi IM5000 « Ar Blade » intègre deux modes de fonctionnement complémentaires pour la finition de surfaces très propres, avant observation ou analyse.

Le mode « Flat Milling » permet notamment le polissage rapide de larges surfaces sur de grands échantillons (Wide Area Milling). Ce mode est particulièrement bien adapté à l’observation en BSE ou en vue de cartographies élémentaires quantitatives (EDS) ou structurales (EBSD).