Imagerie Confocale Raman : Principe, instrumentation et applications

M. Tchaya, U. Schmidt and T. Dieing,
Witec GmbH, Lise-Meitner Str. 6, 89081 Ulm, Germany (www.witec.de)

Le développement de la microscopie confocale au cours du siècle dernier a rendu possible l'analyse tridimensionnelle de micro- et nano-objets. Appliquée à l'imagerie Raman, cette technique permet l'obtention d'informations chimiques tridimensionnelles à la limite de la diffraction. La mise en place d'une aperture devant le détecteur empêche à tout signal ne provenant pas du point focal d'excitation d'être détecté [1-3]. Ceci permet l'obtention d'images avec une résolution spatiale d'environ 230 nm et un rapport signal/bruit minimal.

La présente contribution décrit d'une part le principe et l'instrumentation de l'imagerie confocale Raman et d'autre part, des exemples d'applications réalisés avec des microscopes WITec. Sur ce dernier point, le couplage de l'analyse Raman à d'autres techniques telles que l'AFM (Atomic Force Microscopy), la profilométrie optique et la microscopie à champ proche (SNOM) est développé.

References
[1] P. Lasch, A. Hermelink, and D. Naumann, The Analyst, (2009).
[2] A. Jungen, V. N. Popov, C. Stampfer, C. Durrer, S. Stoll, and C. Hierold, Physical Review 75, (2007).
[3] T. Dieing and O. Hollricher, Vibrational Spectroscopy 48, (2008).

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