Cartographies X : de la genèse aux tous derniers développements. A quoi peut-on s’attendre ?

Fabrice GASLAIN
MinesParisTech, Evry

Depuis la généralisation des détecteurs EDS utilisant la technologie SDD, qui peuvent acquérir un nombre de données importantes avec une bonne résolution, la cartographie X est devenue une fonctionnalité indispensable voire inévitable sur tous les nouveaux systèmes de microanalyse X. Elle permet aux chercheurs d’évaluer rapidement la répartition des éléments et ainsi d’avoir une vue générale sur la composition d’un échantillon.
Mais derrière cette fonctionnalité ou plutôt cet ensemble de fonctionnalités très intéressantes, que se cache-t-il vraiment ? Nous verrons l’ensemble des stratégies d’acquisitions de données existantes et les différentes stratégies de traitements des spectres X disponibles. Pour chaque méthode d’acquisition et traitement, nous présenterons leurs avantages et leurs inconvénients. Nous ferons également le point sur les derniers développements qui peuvent être disponibles sur les nouveaux systèmes commercialisés actuellement.