La  diffraction de Kossel en MEB

Raphaël  PESCI
Arts et Métiers Paristech, Metz

La diffraction des rayons X est une technique non destructive fréquemment utilisée en sciences des matériaux pour déterminer les contraintes résiduelles à une échelle macroscopique.
Du fait de la complexité croissante des nouveaux matériaux et de leurs applications, il devient de plus en plus nécessaire de connaître l’état de déformation/contrainte à une échelle plus petite. Dans ce sens, un outil expérimental appelé microdiffraction Kossel a été développé en microscope électronique à balayage et permet de déterminer à la fois l’orientation cristallographique et les déformations/contraintes avec une résolution spatiale de plusieurs micromètres.
Une méthodologie expérimentale a été mise en place de manière à optimiser la qualité des clichés enregistrés et leur traitement avec un logiciel dédié.
La procédure de détermination des contraintes a été validée en étudiant des monocristaux sous chargement mécanique in situ et a ensuite été appliquée à des matériaux polycristallins en diminuant progressivement la taille de grains.