WD-XRF en cosmétique.

Philippe HALLEGOT
L'Oreal Recherche, Aulnay-sous-Bois 93

L’industrie cosmétique est confrontée à l’analyse d’une grande variété d’échantillons. Ceux-ci vont des substrats (cheveu, cils, peau, ongle), aux différents ingrédients entrant dans la composition des produits. Si les techniques micro-analytiques se sont rapidement révélées indispensables à l’innovation dans le domaine cosmétique, les méthodes d’analyse globale y sont également largement employées.

Parmi celles-ci, la spectrométrie de fluorescence X sous irradiation par faisceau de rayons X (XRF) trouve de nombreuses applications.  Son vaste  domaine d’utilisation est dû au fait que les phénomènes mis en œuvre sont universels et bien connus. De plus, la réalisation des analyses est relativement rapide et ces dernières peuvent généralement être conduites de manière non destructive sur des échantillons à l’état natif. La grande dynamique de l’instrument joue également en sa faveur.

Deux types d’appareillages sont disponibles suivant le mode de spectrométrie associée : ED-XRF (acquisition de spectres en énergie par une diode) et WD-XRF (acquisition de spectre en longueur d’onde par cristaux). Du fait de son excellente résolution spectrale, la WD-XRF est très bien adaptée à la complexité de la grande majorité des produits cosmétiques.

Nous présentons la conception d’un appareil type  WD-XRF et différentes applications cosmétiques de la technique, en nous attachant à en décrire les modes de préparations d’échantillons associées.