FIB : Canon et Colonne ioniques
Frédéric CHARLOT,
Grenoble INP - CMTC, 38402 Saint Martin d'Hères
Bien que le développement d'instruments utilisant un faisceau
d'ions focalisé (FIB) date de plusieurs décennies, cette
technique est en plein essor ces dernières années et s'ouvre
à des domaines très variés. L'apparition d'instruments
alliant une colonne électronique (MEB) et une colonne ionique
(FIB) est très certainement la raison de cet essor.
Il est donc important de mieux appréhender les différents
éléments constituant les FIB, en particulier la source
ionique permettant de générer le faisceau ionique et la
colonne ionique permettant la focalisation de ce faisceau à la
surface de l'échantillon.
Les différents éléments constituant la source
ionique et la colonne ionique seront exposés. Seules les sources
ioniques actuellement couramment utilisées, à savoir les
sources métalliques sous forme liquide (LMIS), seront discutées.
L'utilisation d'ions plutôt que des électrons, par la physique
même de ces particules, conditionne les choix technologiques par
rapport à une colonne électronique, en particulier l'utilisation
de lentilles électrostatiques et non plus de lentilles électromagnétiques.
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