Analyse d'échantillons stratifiés

Florence ROBAUT
SIMaP, CMTC, Grenoble

Depuis le début des années 1990, les modèles analytiques réalistes de la distribution en profondeur f(r.z) de l’émission X permettent de caractériser par sonde électronique les échantillons stratifiés, couches minces et multi-couches, en termes de composition et d’épaisseur massique des différentes strates.

Cet exposé présentera le principe de la méthode et, à travers plusieurs exemples, le choix des conditions opératoires ainsi que les performances et les limites de la microanalyse X d’échantillons stratifiés.